DLPNIRSCANEVM DLP® NIRscan™ 評価モジュール angled board image

DLPNIRSCANEVM

DLP® NIRscan™ 評価モジュール

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DLPNIRSCANEVM の特徴

 

  • 1350nm ~ 2450nm の波長範囲を提供
  • >30,000:1 の信号対雑音比(標準)
  • GUI のダウンロード不要(Web ブラウザ経由で接続するだけ)
  • シンプル/カスタム・スキャン・モードでは 1 秒足らずでスペクトルを取得
  • USB、イーサネット、I2C インターフェイス
  • スペクトル・スキャン・データの保存とダウンロード
  • 反射モジュールやファイバーベースのサンプリング・モジュールに対応

 

DLPNIRSCANEVM に関する概要

 

DLP NIRscan は、高性能で手頃な近赤外線分光計を設計するための評価モジュール(EVM)です。設計者が DLP ベースの分光器の開発をすぐに開始するために必要なものがすべて含まれています。この評価モジュールは、近赤外(NIR)光用に最適化されている初の DLP チップセットとなる DLP 0.45 WXGA NIR チップセットが特長です。DLP テクノロジーにより、食品、製薬、石油/ガス、他の新興産業で使用されている分光器で、ラボ・レベルの性能を工場や現場でも実現できるようになります。

 

 

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