Das DAC3171EVM ist eine Platine, mit der Entwickler die Leistung des einkanaligen 14 Bit-Digital-zu-Analog-Wandlers (DAC) mit 500 MSPS DAC3171 von Texas Instruments evaluieren können. Das EVM bietet eine flexible Umgebung zum Testen des DAC3171 unter verschiedenen Takt- und Eingangsbedingungen. Für eine einfache Handhabung als komplette ZF-Übertragungslösung enthält der DAC3171EVM den Taktgenerator/Jitter-Reiniger CDCE62005 zum Takten des DAC3171.
Das EVM kann zusammen mit dem TSW1400 zur Durchführung einer Vielzahl von Testverfahren verwendet werden. Der TSW1400 erzeugt die Testmuster, die über einen LVDS-Port mit 1,00 GSPS an den DAC3171 eingespeist werden. Der DAC3171EVM-Takt-Chip kann verwendet werden, um die TSW1400-Platine mit DAC3171EVM. zu synchronisieren. Der TSW1406EVM bietet eine kostengünstige Lösung für schnelle EVM-Tests mit einer Probenmustertiefe von bis zu 64k.
| Typ | Titel | Neueste englische Version herunterladen | Datum | ||
|---|---|---|---|---|---|
| * | EVM User's guide | DAC31x1EVM User Guide | 31.07.2013 | ||
| Zertifikat | DAC3171EVM EU Declaration of Conformity (DoC) | 02.01.2019 | |||
| Benutzerhandbuch | DAC31X1EVM Design Package - Board rev A | 29.01.2014 |
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