電源回路の代表的な保護機能に過電流制限があり、過負荷時に過電流による破壊を防止してくれます。急激な過負荷に対する安全性の評価をするため、動作状態の電源出力を短絡して過電流制限の動作確認を行うことがあります。

この評価は昔から行われてきましたが、近年コンデンサの低ESR化により、従来は起きなかった現象の発生による機器破壊の事例が多くなっています。これは低ESR大容量のセラミック・コンデンサの電荷をエネルギー源とし、その容量Cと短絡に使用したワイヤーやパターンの持つインダクタンス成分LによりLC共振が発生し、共振により発生した想定外の高電圧と大電流が原因となります。

LC共振がどのように発生し、共振現象が電源回路やアプリケーション回路にどのような弊害をもたらすことがあるか、短絡テストを行うときの注意点、そして共振の発生を軽減して機器破壊の発生を回避する方法を解説します。