以 GaN 和 C2000 進行電池測試
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10 SEP 2024
此示範展現使用 C2000™ 即時 MCU 和 TI 最新的 100V GaN 裝置，實作精密充電和放電控制。此參考設計利用 C2000 的高解析度 PWM 子系統和 16 位元精密 SAR ADC，確保電流和電壓調節誤差可優於全刻度的 ±0.02%。