4 アクティブ EMI フィルタ

AEF の適用方法を詳細に説明した多数の出版物 [4-7] が存在しており、その結果、従来のパッシブ専用設計に比べてフィルタのサイズと体積が大幅に縮小しています。パッシブ EMI フィルタと同様に、図 4-1 に示すように、AEF 回路は EMI ソースと EMI の影響を受ける側との間の回線に接続します。ただし、パッシブ・フィルタとは異なり、AEF 回路はアクティブなデバイスと制御を使用して残留 (DM または CM) 電圧または電流の外乱を検出し、そのノイズの外乱を直接打ち消す反対の信号を注入します。振幅が等しく位相が反対の信号の重ね合わせ原理に基づいて、注入された電圧または電流は、EMI ソースからのインシデント・ノイズ電圧または電流の寄与を理論的にキャンセルまたは無効化し、実質的に干渉を破壊できます。この戦略は一般的に音響に、EMI に対して連続的に適用されます。

AEF は EMI を大幅に低減することが期待されており、従来のパッシブ専用設計と同等の減衰特性を実現した場合に比べて、フィルタのサイズを小型化できます。AEF に加えて、他の (より小型の) 受動部品は電力段とのインターフェイスを確立し、全体的な減衰を改善します。これらの回路はハイブリッド EMI フィルタ (HEF) と呼ばれています。AEF 回路および HEF 回路の設計と実装は、導通経路 (DM または CM) と、必要なセンシング、ゲイン、注入の各段によって異なります。図 4-1 に示すように、キャンセル信号は、フィードバック (FB) またはフィードフォワード (FF) アプローチによって測定された信号から直接生成されます。