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Biestables tipo D

74AC11074

ACTIVO

Biestables tipo D con activación de borde positivo doble con Clear y Preset

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74AC11074

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Detalles del producto

Number of channels 2 Technology family AC Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 125 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Supply current (max) (µA) 40 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog
Number of channels 2 Technology family AC Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 125 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Supply current (max) (µA) 40 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • Center-Pin VCC and GND Configurations Minimize High-Speed Switching Noise
  • EPICTM (Enhanced-Performance Implanted CMOS) 1-m Process
  • 500-mA Typical Latch-Up Immunity at 125°C
  • Package Options Include Plastic Small-Outline (D) and Thin Shrink Small-Outline (PW) Packages, and Standard Plastic 300-mil DIPs (N)

 

EPIC is a trademark of Texas Instruments Incorporated.
  • Center-Pin VCC and GND Configurations Minimize High-Speed Switching Noise
  • EPICTM (Enhanced-Performance Implanted CMOS) 1-m Process
  • 500-mA Typical Latch-Up Immunity at 125°C
  • Package Options Include Plastic Small-Outline (D) and Thin Shrink Small-Outline (PW) Packages, and Standard Plastic 300-mil DIPs (N)

 

EPIC is a trademark of Texas Instruments Incorporated.

This device contains two independent positive-edge-triggered D-type flip-flops. A low level at the preset () or clear () input sets or resets the outputs regardless of the levels of the other inputs. When and are inactive (high), data at the data (D) input that meets the setup-time requirements are transferred to the outputs on the low-to-high transition of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the rise time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the D input may be changed without affecting the levels at the outputs.

The 74AC11074 is characterized for operation from -40°C to 85°C.

 

 

 

This device contains two independent positive-edge-triggered D-type flip-flops. A low level at the preset () or clear () input sets or resets the outputs regardless of the levels of the other inputs. When and are inactive (high), data at the data (D) input that meets the setup-time requirements are transferred to the outputs on the low-to-high transition of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the rise time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the D input may be changed without affecting the levels at the outputs.

The 74AC11074 is characterized for operation from -40°C to 85°C.

 

 

 
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SN74AC74 ACTIVO Biestables tipo D con activación de borde positivo doble con Clear y Preset Larger voltage range (2V to 6V)

Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
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Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
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Paquete Pasadores Descargar
PDIP (N) 14 Ver opciones
SOIC (D) 14 Ver opciones
TSSOP (PW) 14 Ver opciones
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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