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ADC de alta velocidad (≥ 10 MSPS)

ADC32RF44

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Convertidor analógico a digital (ADC) de muestreo de RF de dos canales, 14 bits y 2,6 GSPS

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ADC32RF44

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Detalles del producto

Sample rate (max) (Msps) 2600 Resolution (Bits) 14 Number of input channels 2 Interface type JESD204B Analog input BW (MHz) 3200 Features Ultra High Speed Rating Catalog Peak-to-peak input voltage range (V) 1.35 Power consumption (typ) (mW) 5820 Architecture Pipeline SNR (dB) 63.1 ENOB (bit) 10 SFDR (dB) 79 Operating temperature range (°C) -40 to 85 Input buffer Yes
Sample rate (max) (Msps) 2600 Resolution (Bits) 14 Number of input channels 2 Interface type JESD204B Analog input BW (MHz) 3200 Features Ultra High Speed Rating Catalog Peak-to-peak input voltage range (V) 1.35 Power consumption (typ) (mW) 5820 Architecture Pipeline SNR (dB) 63.1 ENOB (bit) 10 SFDR (dB) 79 Operating temperature range (°C) -40 to 85 Input buffer Yes
VQFNP (RMP) 72 100 mm² 10 x 10
  • 14-Bit, Dual-Channel, 2.6-GSPS ADC
  • Noise Floor: –154.2 dBFS/Hz
  • RF Input Supports Up to 4.0 GHz
  • Aperture Jitter: 90 fS
  • Channel Isolation: 95 dB at fIN = 1.8 GHz
  • Spectral Performance (fIN = 900 MHz, –2 dBFS):
    • SNR: 61.2 dBFS
    • SFDR: 65-dBc HD2, HD3
    • SFDR: 79-dBc Worst Spur
  • Spectral Performance (fIN = 1.85 GHz, –2 dBFS):
    • SNR: 58.3 dBFS
    • SFDR: 69-dBc HD2, HD3
    • SFDR: 74-dBc Worst Spur
  • On-Chip Digital Down-Converters:
    • Up to 4 DDCs (Dual-Band Mode)
    • Up to 3 Independent NCOs per DDC
  • On-Chip Input Clamp for Overvoltage Protection
  • Programmable On-Chip Power Detectors with Alarm Pins for AGC Support
  • On-Chip Dither
  • On-Chip Input Termination
  • Input Full-Scale: 1.35 VPP
  • Support for Multi-Chip Synchronization
  • JESD204B Interface:
    • Subclass 1-Based Deterministic Latency
    • 4 Lanes Per Channel at 12.5 Gbps
  • Power Dissipation: 2.95 W/Ch at 2.6 GSPS
  • 72-Pin VQFN Package (10 mm × 10 mm)
  • 14-Bit, Dual-Channel, 2.6-GSPS ADC
  • Noise Floor: –154.2 dBFS/Hz
  • RF Input Supports Up to 4.0 GHz
  • Aperture Jitter: 90 fS
  • Channel Isolation: 95 dB at fIN = 1.8 GHz
  • Spectral Performance (fIN = 900 MHz, –2 dBFS):
    • SNR: 61.2 dBFS
    • SFDR: 65-dBc HD2, HD3
    • SFDR: 79-dBc Worst Spur
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    • SFDR: 69-dBc HD2, HD3
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  • On-Chip Digital Down-Converters:
    • Up to 4 DDCs (Dual-Band Mode)
    • Up to 3 Independent NCOs per DDC
  • On-Chip Input Clamp for Overvoltage Protection
  • Programmable On-Chip Power Detectors with Alarm Pins for AGC Support
  • On-Chip Dither
  • On-Chip Input Termination
  • Input Full-Scale: 1.35 VPP
  • Support for Multi-Chip Synchronization
  • JESD204B Interface:
    • Subclass 1-Based Deterministic Latency
    • 4 Lanes Per Channel at 12.5 Gbps
  • Power Dissipation: 2.95 W/Ch at 2.6 GSPS
  • 72-Pin VQFN Package (10 mm × 10 mm)

The ADC32RF44 device is a 14-bit, 2.6-GSPS, dual-channel, analog-to-digital converter (ADC) that supports RF sampling with input frequencies up to 4 GHz and beyond. Designed for high signal-to-noise ratio (SNR), the ADC32RF44 delivers a noise spectral density of –154.2 dBFS/Hz as well as dynamic range and channel isolation over a large input frequency range. The buffered analog input with on-chip termination provides uniform input impedance across a wide frequency range and minimizes sample-and-hold glitch energy.

Each ADC channel can be connected to a dual-band, digital down-converter (DDC) with up to three independent, 16-bit numerically-controlled oscillators (NCOs) per DDC for phase-coherent frequency hopping. Additionally, the ADC is equipped with front-end peak and RMS power detectors and alarm functions to support external automatic gain control (AGC) algorithms.

The ADC32RF44 supports the JESD204B serial interface with subclass 1-based deterministic latency using data rates up to 12.5 Gbps with up to four lanes per ADC. The device is offered in a 72-pin VQFN package (10 mm × 10 mm) and supports the industrial temperature range (–40°C to +85°C).



The ADC32RF44 device is a 14-bit, 2.6-GSPS, dual-channel, analog-to-digital converter (ADC) that supports RF sampling with input frequencies up to 4 GHz and beyond. Designed for high signal-to-noise ratio (SNR), the ADC32RF44 delivers a noise spectral density of –154.2 dBFS/Hz as well as dynamic range and channel isolation over a large input frequency range. The buffered analog input with on-chip termination provides uniform input impedance across a wide frequency range and minimizes sample-and-hold glitch energy.

Each ADC channel can be connected to a dual-band, digital down-converter (DDC) with up to three independent, 16-bit numerically-controlled oscillators (NCOs) per DDC for phase-coherent frequency hopping. Additionally, the ADC is equipped with front-end peak and RMS power detectors and alarm functions to support external automatic gain control (AGC) algorithms.

The ADC32RF44 supports the JESD204B serial interface with subclass 1-based deterministic latency using data rates up to 12.5 Gbps with up to four lanes per ADC. The device is offered in a 72-pin VQFN package (10 mm × 10 mm) and supports the industrial temperature range (–40°C to +85°C).



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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
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Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

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Guía del usuario: PDF
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Transceptores de muestreo de RF
AFE7422 — Transceptor de muestreo de RF de 2 transmisores y 2 receptores de 10 MHz a 6 GHz y un IBW máx. de 12 AFE7444 — Transceptor de muestreo de RF de 4 transmisores y 4 receptores, de 10 MHz a 6 GHz y un IBW máx. de 6
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SBAC147.ZIP (7034 KB)
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VQFNP (RMP) 72 Ver opciones
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

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