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NUEVO

AFE3256

ACTIVO

Circuito frontal analógico (AFE) de 256 canales para detectores dinámicos y semidinámicos de rayos X

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AFE3256

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Detalles del producto

Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
COF (TFU) 320 1064 mm² 38 x 28
  • 256 channels
  • On-chip, 16-bit ADC
  • High performance:
    • Noise: 440 electrons RMS (1.2-pC input charge range)
    • Low correlated noise
    • Full-channel integral nonlinearity: ±2 LSB at 16 bit
    • Scan time: < 16 µs to 204.8 µs
  • Integration:
    • Programmable full-scale input charge range: 0.3pC to 12.5pC with resolution of 0.3pC
    • Internal timing generator (TG)
    • Built-in correlated double sampler
    • Software programmable electron or hole integration mode
    • Pipelined integrate-and-read for improved throughput—data-read during integration
    • Serial LVDS output
    • On-chip temperature sensor
  • Simple power supply scheme:
    • Single 1.85V power supply operation
  • Multiple power modes with power consumption ranging from 1mW/ch to 2mW/ch
  • Power-down modes: sleep and standby
  • Binning mode support
  • Custom chip-on-film (COF) packages
  • 256 channels
  • On-chip, 16-bit ADC
  • High performance:
    • Noise: 440 electrons RMS (1.2-pC input charge range)
    • Low correlated noise
    • Full-channel integral nonlinearity: ±2 LSB at 16 bit
    • Scan time: < 16 µs to 204.8 µs
  • Integration:
    • Programmable full-scale input charge range: 0.3pC to 12.5pC with resolution of 0.3pC
    • Internal timing generator (TG)
    • Built-in correlated double sampler
    • Software programmable electron or hole integration mode
    • Pipelined integrate-and-read for improved throughput—data-read during integration
    • Serial LVDS output
    • On-chip temperature sensor
  • Simple power supply scheme:
    • Single 1.85V power supply operation
  • Multiple power modes with power consumption ranging from 1mW/ch to 2mW/ch
  • Power-down modes: sleep and standby
  • Binning mode support
  • Custom chip-on-film (COF) packages

The AFE3256 is a 256-channel, analog front-end (AFE) designed to suit the requirements of flat-panel detector (FPD) based digital X-ray systems. The device includes 256 integrators, correlated double samplers (CDSs) with dual banking, and 256:2 analog multiplexers. The device also features two 16-bit successive-approximation register (SAR) analog-to-digital converters (ADCs). Serial data from the ADCs are available in low-voltage differential signaling (LVDS) format.

The device, also commonly referred to as a readout integrated circuit (ROIC), optimizes the overall system performance using features such as multiple power modes and in-system debug options.

The sleep and standby modes enable substantial power saving which is critical for battery-powered systems.

The AFE3256 is a 256-channel, analog front-end (AFE) designed to suit the requirements of flat-panel detector (FPD) based digital X-ray systems. The device includes 256 integrators, correlated double samplers (CDSs) with dual banking, and 256:2 analog multiplexers. The device also features two 16-bit successive-approximation register (SAR) analog-to-digital converters (ADCs). Serial data from the ADCs are available in low-voltage differential signaling (LVDS) format.

The device, also commonly referred to as a readout integrated circuit (ROIC), optimizes the overall system performance using features such as multiple power modes and in-system debug options.

The sleep and standby modes enable substantial power saving which is critical for battery-powered systems.
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Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
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Tipo Título Fecha
* Data sheet AFE3256 256-Channel, Analog Front-End for Digital X-Ray, Flat-Panel Detectors datasheet (Rev. A) PDF | HTML 24 abr 2024
Certificate AFE3256EVM EU Declaration of Conformity (DoC) 18 sep 2023
Analog Design Journal Selecting a multichannel ultra-low-current measurement IC PDF | HTML 18 mar 2022

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

AFE3256EVM — Módulo de evaluación AFE3256 para extremo frontal analógico (AFE) de 256 canales para detector plano

El módulo de evaluación (EVM) AFE3256 se utiliza para evaluar el dispositivo AFE3256, un CI de lectura de carga (convertidor de carga a digital) de baja potencia y bajo ruido en encapsulado de chip on flex (COF). El EVM consta de una placa analógica que se integra perfectamente con el TSWDC155EVM (...)

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Herramienta de simulación

PSPICE-FOR-TI — PSpice® para herramienta de diseño y simulación de TI

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COF (TFU) 320 Ver opciones
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Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Los productos recomendados pueden tener parámetros, módulos de evaluación o diseños de referencia relacionados con este producto de TI.

Soporte y capacitación

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