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SN74AHC1G32-Q1

ACTIVO

Puerta OR de alta velocidad (9 ns), de un canal y dos entradas, de 2 V a 5.5 V para automoción

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SN74AHC1G32-Q1

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Detalles del producto

Technology family AHC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 110 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family AHC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 110 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² 2.9 x 2.8 SOT-SC70 (DCK) 5 4.2 mm² 2 x 2.1

  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:

    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

    • Device HBM ESD classification level 2

    • Device CDM ESD classification level C4B

  • Qualified for automotive applications
  • Operating range of 2V to 5.5V
  • Maximum tpd of 6.5ns at 5V
  • Low power consumption, 10µA maximum ICC
  • ±8mA output drive at 5V
  • Latch-up performance exceeds 250mAper JESD 17

  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:

    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

    • Device HBM ESD classification level 2

    • Device CDM ESD classification level C4B

  • Qualified for automotive applications
  • Operating range of 2V to 5.5V
  • Maximum tpd of 6.5ns at 5V
  • Low power consumption, 10µA maximum ICC
  • ±8mA output drive at 5V
  • Latch-up performance exceeds 250mAper JESD 17

The SN74AHC1G32-Q1 is a single 2-input positive-OR gate. The device performs the Boolean functionY = A + B or Y = A × B in positive logic.

The SN74AHC1G32-Q1 is a single 2-input positive-OR gate. The device performs the Boolean functionY = A + B or Y = A × B in positive logic.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
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Application note Live Insertion 01 oct 1996

Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

5-8-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación lógica genérico para encapsulados DCK, DCT, DCU, DRL y DBV de 5 a 8 pines

Módulo de evaluación (EVM) flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo que tenga un encapsulado DCK, DCT, DCU, DRL o DBV en un recuento de 5 a 8 pines.
Guía del usuario: PDF
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

SN74AHC1G32 Behavioral SPICE Model

SCLM268.ZIP (7 KB) - PSpice Model
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TIDA-00803 — Diseño de potencia de calidad automotriz para sistemas de cámaras frontales que utilizan procesadore

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Esquema: PDF
Diseños de referencia

TIDA-00530 — Diseño de referencia de potencia de calidad automotriz para sistemas basados en TDA3x de baja potenc

This solution was designed to make an integrated, size-optimized power design for ADAS applications using the TDA3x SoC off of an automotive battery input.  By targeting only applications with lower processing needs, we’re able to choose devices and components which are smaller, compared (...)
Design guide: PDF
Esquema: PDF
Paquete Pasadores Descargar
SOT-23 (DBV) 5 Ver opciones
SOT-SC70 (DCK) 5 Ver opciones
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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