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Biestables tipo D

SN74HCS72-Q1

ACTIVO

Biestables activados por borde negativo de tipo D doble con entrada de disparador Schmitt y opciones

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SN74HCS72-Q1

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Detalles del producto

Number of channels 2 Technology family HCS Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 45 IOL (max) (mA) 7.8 IOH (max) (mA) -7.8 Supply current (max) (µA) 2 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Automotive
Number of channels 2 Technology family HCS Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 45 IOL (max) (mA) 7.8 IOH (max) (mA) -7.8 Supply current (max) (µA) 2 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Automotive
SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • AEC-Q100 Qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
    • Device HBM ESD Classification Level 2
    • Device CDM ESD Classifcation Level C6
  • Wide operating voltage range: 2 V to 6 V
  • Schmitt-trigger inputs allow for slow or noisy input signals
  • Low power consumption
    • Typical ICC of 100 nA
    • Typical input leakage current of ±100 nA
  • ±7.8-mA output drive at 5 V
  • AEC-Q100 Qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
    • Device HBM ESD Classification Level 2
    • Device CDM ESD Classifcation Level C6
  • Wide operating voltage range: 2 V to 6 V
  • Schmitt-trigger inputs allow for slow or noisy input signals
  • Low power consumption
    • Typical ICC of 100 nA
    • Typical input leakage current of ±100 nA
  • ±7.8-mA output drive at 5 V

This device contains two independent D-type negative-edge-triggered flip-flops. All inputs include Schmitt-triggers, allowing for slow or noisy input signals. A low level at the preset (PRE) input sets the output high. A low level at the clear (CLR) input resets the output low. Preset and clear functions are asynchronous and not dependent on the levels of the other inputs. When PRE and CLR are inactive (high), data at the data (D) input meeting the setup time requirements is transferred to the outputs (Q, Q) on the negative-going edge of the clock (CLK) pulse. Following the hold-time interval, data at the data (D) input can be changed without affecting the levels at the outputs (Q, Q).

This device contains two independent D-type negative-edge-triggered flip-flops. All inputs include Schmitt-triggers, allowing for slow or noisy input signals. A low level at the preset (PRE) input sets the output high. A low level at the clear (CLR) input resets the output low. Preset and clear functions are asynchronous and not dependent on the levels of the other inputs. When PRE and CLR are inactive (high), data at the data (D) input meeting the setup time requirements is transferred to the outputs (Q, Q) on the negative-going edge of the clock (CLK) pulse. Following the hold-time interval, data at the data (D) input can be changed without affecting the levels at the outputs (Q, Q).
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet SN74HCS72-Q1 Automotive Qualified Schmitt-Trigger Input Dual D-Type Negative-Edge-Triggered Flip-Flops With Clear and Preset datasheet PDF | HTML 28 feb 2019
Application brief Save Power with Negative-Edge-Triggered Flip-flops in Automotive CAN Application 06 dic 2019

Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

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Guía del usuario: PDF | HTML
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Modelo de simulación

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Paquete Pasadores Descargar
SOIC (D) 14 Ver opciones
TSSOP (PW) 14 Ver opciones
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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