홈 데이터 컨버터 통합 및 특수 기능 데이터 컨버터 의료용 AFE 디지털 엑스레이 AFE
홈
데이터 컨버터
통합 및 특수 기능 데이터 컨버터
의료용 AFE
디지털 엑스레이 AFE

AFE2256

활성

디지털 엑스레이, 평판 감지기용 256채널 아날로그 프론트 엔드(AFE)

지금 주문
데이터시트

이 제품의 최신 버전이 있습니다

open-in-new 대안 비교
비교 대상 장치와 유사한 기능
신규 AFE3256 활성 동적 및 반동적 X-선 평판 패널 감지기용 256채널 아날로그 프론트 엔드(AFE) Higher integration, fast scan time

AFE2256

활성
데이터시트 지금 주문

제품 상세 정보

Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 85 Rating Catalog
Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 85 Rating Catalog
COF (TBN) 325 1039.525 mm² 48.35 x 21.5 COF (TDR) 325 1039.525 mm² 48.35 x 21.5 COF (TDU) 320 1064 mm² 38 x 28
  • 256 Channels
  • On-Chip, 16-Bit ADC
  • Photodiode Short Immunity
  • High Performance:
    • Noise: 750 Electrons RMS (1.2-pC Input Charge Range)
    • Low Correlated Noise
    • Integral Nonlinearity: ±2 LSB with Internal 16-Bit ADC
    • Scan Time: < 20 µs to 204.8 µs
  • Integration:
    • Six Selectable, Full-Scale Input Ranges: 0.6 pC (Minimum) to 9.6 pC (Maximum)
    • Internal Timing Generator (TG)
    • Built-In Correlated Double Sampler
    • Pipelined Integrate-and-Read for Improved Throughput—Data-Read During Integration
    • Serial LVDS Output
  • Simple Power-Supply Scheme:
    • AVDD1 = 1.85 V
    • AVDD2 = 3.3 V
  • Low Power Consumption
  • Nap and Total Power-Down Modes
  • Custom Chip-On-Film (COF) Packages
  • 256 Channels
  • On-Chip, 16-Bit ADC
  • Photodiode Short Immunity
  • High Performance:
    • Noise: 750 Electrons RMS (1.2-pC Input Charge Range)
    • Low Correlated Noise
    • Integral Nonlinearity: ±2 LSB with Internal 16-Bit ADC
    • Scan Time: < 20 µs to 204.8 µs
  • Integration:
    • Six Selectable, Full-Scale Input Ranges: 0.6 pC (Minimum) to 9.6 pC (Maximum)
    • Internal Timing Generator (TG)
    • Built-In Correlated Double Sampler
    • Pipelined Integrate-and-Read for Improved Throughput—Data-Read During Integration
    • Serial LVDS Output
  • Simple Power-Supply Scheme:
    • AVDD1 = 1.85 V
    • AVDD2 = 3.3 V
  • Low Power Consumption
  • Nap and Total Power-Down Modes
  • Custom Chip-On-Film (COF) Packages

The AFE2256 is a 256-channel, analog front-end (AFE) designed to suit the requirements of flat-panel detector (FPD) based digital x-ray systems. The device includes 256 integrators, a programmable gain amplifier (PGA) for full-scale charge level selection, a correlated double sampler with dual banking, and 256:4 analog multiplexers.

The device also features four 16-bit successive-approximation register (SAR) analog-to-digital converters (ADCs). Serial data from the ADCs are available in low-voltage differential signaling (LVDS) format.

The nap and power-down modes enable substantial power savings, and are especially useful in battery-powered systems.

To request a full datasheet or other design resources: request AFE2256

The AFE2256 is a 256-channel, analog front-end (AFE) designed to suit the requirements of flat-panel detector (FPD) based digital x-ray systems. The device includes 256 integrators, a programmable gain amplifier (PGA) for full-scale charge level selection, a correlated double sampler with dual banking, and 256:4 analog multiplexers.

The device also features four 16-bit successive-approximation register (SAR) analog-to-digital converters (ADCs). Serial data from the ADCs are available in low-voltage differential signaling (LVDS) format.

The nap and power-down modes enable substantial power savings, and are especially useful in battery-powered systems.

To request a full datasheet or other design resources: request AFE2256

open-in-new 기타 디지털 엑스레이 AFE 찾기
다운로드 스크립트와 함께 비디오 보기 동영상

자세한 정보

전체 데이터 시트 및 기타 설계 리소스를 NDA에 따라 사용 가능합니다.지금 요청

기술 문서

star =TI에서 선정한 이 제품의 인기 문서
검색된 결과가 없습니다. 검색어를 지우고 다시 시도하십시오.
모두 보기3
유형 직함 날짜
* Data sheet AFE2256 256-Channel, Analog Front-End for Digital X-Ray, Flat-Panel Detectors datasheet (Rev. C) PDF | HTML 2023/12/13
Analog Design Journal Selecting a multichannel ultra-low-current measurement IC PDF | HTML 2022/03/18
Technical article Advancements in X-ray imaging PDF | HTML 2017/03/28

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

AFE2256EVM — AFE2256 디지털 엑스레이 평판 감지기용 256채널 AFE 평가 모듈

The AFE2256EVM is a compact USB based evaluation kit for evaluating the AFE2256 COF, a 256-channel analog front-end. The EVM is self-contained with DACs and power generation on-board which greatly reduces its dependency on external equipment. The kit consists of an EVM and two separate COF adapters (...)

사용 설명서: PDF
요청
시뮬레이션 툴

PSPICE-FOR-TI — TI 설계 및 시뮬레이션 툴용 PSpice®

TI용 PSpice®는 아날로그 회로의 기능을 평가하는 데 사용되는 설계 및 시뮬레이션 환경입니다. 완전한 기능을 갖춘 이 설계 및 시뮬레이션 제품군은 Cadence®의 아날로그 분석 엔진을 사용합니다. 무료로 제공되는 TI용 PSpice에는 아날로그 및 전력 포트폴리오뿐 아니라 아날로그 행동 모델에 이르기까지 업계에서 가장 방대한 모델 라이브러리 중 하나가 포함되어 있습니다.

TI 설계 및 시뮬레이션 환경용 PSpice는 기본 제공 라이브러리를 이용해 복잡한 혼합 신호 설계를 시뮬레이션할 수 있습니다. 레이아웃 및 제작에 (...)
요청
패키지 핀 다운로드
COF (TBN) 325 옵션 보기
COF (TDR) 325 옵션 보기
COF (TDU) 320 옵션 보기
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

콘텐츠는 TI 및 커뮤니티 기고자에 의해 "있는 그대로" 제공되며 TI의 사양으로 간주되지 않습니다. 사용 약관을 참조하십시오.

품질, 패키징, TI에서 주문하는 데 대한 질문이 있다면 TI 지원을 방문하세요. ​​​​​​​​​​​​​​

동영상