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CD54HCT377

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데이터 활성화를 지원하는 고속 CMOS 로직 8진 D형 플립플롭

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CD54HCT377

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제품 상세 정보

Number of channels 8 Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 16 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Supply current (max) (µA) 160 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
Number of channels 8 Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 16 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Supply current (max) (µA) 160 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
CDIP (J) 20 167.464 mm² 24.2 x 6.92
  • Buffered Common Clock
  • Buffered Inputs
  • Typical Propagation Delay at CL = 15pF, VCC = 5V, TA = 25°C
    • 14 ns (HC Types)
    • 16 ns (HCT Types)
  • Fanout (Over Temperature Range)
    • Standard Outputs. . . . . . . . . . . . . . . 10 LSTTL Loads
    • Bus Driver Outputs . . . . . . . . . . . . . 15 LSTTL Loads
  • Wide Operating Temperature Range . . . –55°C to 125°C
  • Balanced Propagation Delay and Transition Times
  • Significant Power Reduction Compared to LSTTL Logic ICs
  • HC Types
    • 2V to 6V Operation
    • High Noise Immunity: NIL = 30%, NIH = 30%of VCC at VCC = 5V
  • HCT Types
    • 4.5V to 5.5V Operation
    • Direct LSTTL Input Logic Compatibility, VIL = 0.8V (Max), VIH = 2V (Min)
    • CMOS Input Compatibility, Il 1µA at VOL, VOH
  • Buffered Common Clock
  • Buffered Inputs
  • Typical Propagation Delay at CL = 15pF, VCC = 5V, TA = 25°C
    • 14 ns (HC Types)
    • 16 ns (HCT Types)
  • Fanout (Over Temperature Range)
    • Standard Outputs. . . . . . . . . . . . . . . 10 LSTTL Loads
    • Bus Driver Outputs . . . . . . . . . . . . . 15 LSTTL Loads
  • Wide Operating Temperature Range . . . –55°C to 125°C
  • Balanced Propagation Delay and Transition Times
  • Significant Power Reduction Compared to LSTTL Logic ICs
  • HC Types
    • 2V to 6V Operation
    • High Noise Immunity: NIL = 30%, NIH = 30%of VCC at VCC = 5V
  • HCT Types
    • 4.5V to 5.5V Operation
    • Direct LSTTL Input Logic Compatibility, VIL = 0.8V (Max), VIH = 2V (Min)
    • CMOS Input Compatibility, Il 1µA at VOL, VOH

The ’HC377 and ’HCT377 are octal D-type flip-flops with a buffered clock (CP) common to all eight flip-flops. All the flip-flops are loaded simultaneously on the positive edge of the clock (CP) when the Data Enable (E\) is Low.

The ’HC377 and ’HCT377 are octal D-type flip-flops with a buffered clock (CP) common to all eight flip-flops. All the flip-flops are loaded simultaneously on the positive edge of the clock (CP) when the Data Enable (E\) is Low.
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기술 문서

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유형 직함 날짜
* Data sheet CD54HC377, CD74HC377, CD54HCT377, CD74HCT377 datasheet (Rev. C) 2004/02/17
* SMD CD54HCT377 SMD 5962-89769 2016/06/21
Application note Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) PDF | HTML 2022/12/15
Application note Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 2021/07/26
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 2017/06/12
Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015/12/02
User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007/01/16
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004/07/08
User guide Signal Switch Data Book (Rev. A) 2003/11/14
Application note TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002/08/29
Application note CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997/06/01
Application note Designing With Logic (Rev. C) 1997/06/01
Application note SN54/74HCT CMOS Logic Family Applications and Restrictions 1996/05/01
Application note Using High Speed CMOS and Advanced CMOS in Systems With Multiple Vcc 1996/04/01

설계 및 개발

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CDIP (J) 20 옵션 보기
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주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

지원 및 교육

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포럼 주제 모두 보기(영문)

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