SN74HCS00
- Wide operating voltage range: 2 V to 6 V
- Schmitt-trigger inputs allow for slow or noisy input signals
- Low power consumption
- Typical ICC of 100 nA
- Typical input leakage current of ±100 nA
- ±7.8-mA output drive at 5 V
- Extended ambient temperature range: –40°C to +125°C, TA
This device contains four independent 2-input NAND Gates with Schmitt-trigger inputs. Each gate performs the Boolean function Y = A ● B in positive logic.
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기술 문서
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모두 보기2 | 유형 | 직함 | 날짜 | ||
|---|---|---|---|---|
| * | Data sheet | SN74HCS00 Quadruple 2-Input NAND Gates with Schmitt-Trigger Inputs datasheet (Rev. C) | PDF | HTML | 2021/12/13 |
| Application brief | Catch a Digital Signal | PDF | HTML | 2021/07/16 |
설계 및 개발
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평가 보드
14-24-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 D, DB, DGV, DW, DYY, NS 및 PW 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈
14-24-LOGIC-EVM 평가 모듈(EVM)은 14핀~24핀 D, DW, DB, NS, PW, DYY 또는 DGV 패키지에 있는 모든 로직 장치를 지원하도록 설계되었습니다.
평가 보드
14-24-NL-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 비 리드 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈
14-24-NL-LOGIC-EVM은 14핀~24핀 BQA, BQB, RGY, RSV, RJW 또는 RHL 패키지가 있는 로직 또는 변환 디바이스를 지원하도록 설계된 유연한 평가 모듈(EVM)입니다.
평가 보드
HALL-TRIGGER-EVM — 외부 자기장 보호 기능이 있는 무접촉 홀(Hall) 효과 변속 트리거용 평가 모듈
이 평가 모듈(EVM)은 홀(Hall) 효과 센서를 사용해 트리거가 눌리는 정도를 바탕으로 다양한 전압을 출력하는 트리거를 구현합니다. 이 EVM은 무접촉 접근법을 사용하며, 따라서 기존의 기계 기반 트리거에 비해 마손이 적기 때문에 제품 수명이 상대적으로 길어졌습니다. 저전력 홀(Hall) 효과 스위치와 부하 스위치를 함께 사용해 트리거를 누르지 않을 때는 시스템을 저전력 대기 모드로 유지합니다. 또한, 강력한 외부 자기장이 존재하는 경우 전압 출력을 비활성화하는 자기장 보호 기능을 선택할 수 있습니다.
레퍼런스 디자인
TIDA-060032 — 스트레이 필드 제거 레퍼런스 설계(옵션)를 지원하는 저전력 선형 트리거
이 레퍼런스 디자인은 홀 효과 센서를 사용해 트리거가 눌리는 정도를 바탕으로 다양한 전압을 출력하는 트리거를 구현합니다. 이러한 유형의 트리거는 무선 전동 공구 또는 트리거 변위 정보를 사용하는 기타 완제품에 매우 유용합니다.
이 설계는 무접촉 접근법을 사용하며, 따라서 기존의 기계 기반 트리거에 비해 마손이 적기 때문에 제품 수명이 상대적으로 길어졌습니다. 저전력 홀(Hall) 효과 스위치와 부하 스위치를 함께 사용해 트리거를 누르지 않을 때는 시스템을 저전력 대기 모드로 유지합니다. 또한, 강력한 외부 자기장이 존재하는 경우 (...)
| 패키지 | 핀 | 다운로드 |
|---|---|---|
| SOIC (D) | 14 | 옵션 보기 |
| SOT-23-THN (DYY) | 14 | 옵션 보기 |
| TSSOP (PW) | 14 | 옵션 보기 |
| WQFN (BQA) | 14 | 옵션 보기 |
주문 및 품질
포함된 정보:
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
- 팹 위치
- 조립 위치