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SN74LV86A-EP

활성

향상된 제품 4채널, 2입력, 2V~5.5V XOR(배타적 OR) 게이트

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SN74LV86A-EP

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제품 상세 정보

Technology family LV-A Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 50 Input type Standard CMOS IOH (max) (mA) -50 Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 70 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 105
Technology family LV-A Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 50 Input type Standard CMOS IOH (max) (mA) -50 Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 70 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 105
TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of –40°C to 105°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • 2-V to 5.5-V VCC Operation
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce)
       <0.8 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Typical VOHV (Output VOH Undershoot)
       >2.3 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Support Mixed-Mode Voltage Operation on All Ports

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of –40°C to 105°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • 2-V to 5.5-V VCC Operation
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce)
       <0.8 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Typical VOHV (Output VOH Undershoot)
       >2.3 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Support Mixed-Mode Voltage Operation on All Ports

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

The SN74LV86A is a quadruple 2-input exclusive-OR gate designed for 2-V to 5.5-V VCC operation.

This device contains four independent 2-input exclusive-OR gates. It performs the Boolean function Y = A B or Y = A\B + AB\ in positive logic.

A common application is as a true/complement element. If one of the inputs is low, the other input is reproduced in true form at the output. If one of the inputs is high, the signal on the other input is reproduced inverted at the output.

The SN74LV86A is a quadruple 2-input exclusive-OR gate designed for 2-V to 5.5-V VCC operation.

This device contains four independent 2-input exclusive-OR gates. It performs the Boolean function Y = A B or Y = A\B + AB\ in positive logic.

A common application is as a true/complement element. If one of the inputs is low, the other input is reproduced in true form at the output. If one of the inputs is high, the signal on the other input is reproduced inverted at the output.
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기술 문서

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유형 직함 날짜
* Data sheet SN74LV86A-EP datasheet (Rev. A) 2004/05/11
* VID SN74LV86A-EP VID V6204694 2016/06/21
* Radiation & reliability report SN74LV86ATPWREP Reliability Report 2014/12/22

설계 및 개발

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주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

지원 및 교육

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포럼 주제 모두 보기(영문)

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