JAJSTD8 November 2025 ISOW6441 , ISOW6442
ADVANCE INFORMATION
| パラメータ | テスト条件 | 値 | 単位 | |
|---|---|---|---|---|
| 一般 | ||||
| CLR | 外部空間距離(1) | 空気を介した最短のピン間距離 | >8 | mm |
| CPG | 外部沿面距離(1) | パッケージ表面に沿った最短のピン間距離 | >8 | mm |
| DTI | 絶縁物を介した距離 | 最小内部ギャップ (内部距離 - 容量性信号絶縁) | > 17 | µm |
| 最小内部ギャップ (内部距離 - トランスによる電力絶縁) | >120 | |||
| CTI | 比較トラッキング インデックス | DIN EN 60112 (VDE 0303-11)、IEC 60112 | > 600 | V |
| 材料グループ | IEC 60664-1 に準拠 | I | ||
| IEC 60664-1 に準拠した過電圧カテゴリ | 定格商用電源 VRMS が 300V 以下 | I-IV | ||
| 定格商用電源 VRMS が 600V 以下 | I-IV | |||
| 定格商用電源 VRMS が 1000V 以下 | I-III | |||
| DIN VDE V 0884-11:2017-01 | ||||
| VIORM | 最大反復ピーク絶縁電圧 | AC 電圧 (バイポーラ) | 1500 | VPK |
| VIOWM | 最大動作絶縁電圧 | AC 電圧、経時絶縁破壊 (TDDB) テスト | 1061 | VRMS |
| DC 電圧 | 1500 | VDC | ||
| VIOTM | 最大過渡絶縁電圧 | VTEST = VIOTM、t = 60s (認定時テスト)、 VTEST = 1.2 × VIOTM、t = 1s (100% 出荷時テスト) |
7071 | VPK |
| VIMP | 最大インパルス電圧、ISOW644x(2) | 空気中でテスト、IEC 62368-1 に 1.2/50μs の波形 |
8000 | VPK |
| VIOSM | 最大サージ絶縁電圧 ISOW644x(2) | VIOSM ≥ 1.3 × VIMP、油中でテスト (資格 テスト)、IEC 62368-1 に 1.2/50μs 波形 |
10400 | VPK |
| qpd | 見掛けの電荷(3) | メソッド a、入力 / 出力安全テスト サブグループ 2/3 の後、 Vini = VIOTM、tini = 60 s Vpd(m) = 1.2 × VIORM、tm = 10 s |
≦ 5 | pC |
| メソッド a、環境テスト サブグループ 1 の後、 Vini = VIOTM、tini = 60 s ISOW644x:Vpd(m) = 1.6 × VIORM、tm = 10 s |
≦ 5 | |||
| メソッド b1、ルーチン テスト (100% 出荷時) および事前条件設定 (タイプ テスト) に、 Vini = 1.2 × VIOTM、tini = 1s ISOW644x:Vpd(m) = 1.875 × VIORM、tm = 1s |
≦ 5 | |||
| CIO | 絶縁バリア容量、入力から出力へ(4) | VIO = 0.4 × sin (2πft)、f = 1MHz | 3.5 | pF |
| RIO | 絶縁抵抗(4) | VIO = 500V、TA = 25℃ | > 1012 | Ω |
| VIO = 500V (100℃ ≦ TA ≦ 125℃時) | > 1011 | |||
| VIO = 500V (TS = 150℃時) | > 109 | |||
| 汚染度 | 2 | |||
| 耐候性カテゴリ | 55/125/21 | |||
| UL 1577 | ||||
| VISO(UL) | 絶縁耐圧 | VTEST = VISO = 5000VRMS、t = 60s (認定時テスト)、 VTEST = 1.2 × VISO = 6000VRMS、t = 1s (100% 出荷時テスト) |
5000 | VRMS |