JAJSM84C December 2022 – August 2025 LM74900-Q1 , LM74910-Q1 , LM74910H-Q1
PRODUCTION DATA
デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。
過電圧カットオフ、逆電流ブロック、過電流カットオフ、EN による電流フローの中断などの条件中に外部 MOSFET がオフになると、入力ライン インダクタンスによって入力に正の電圧スパイクが発生し、出力インダクタンスによって出力に負の電圧スパイクが発生します。電圧スパイク (過渡現象) のピーク振幅は、デバイスの入力または出力に存在する直列インダクタンスの値に依存します。この問題に何らかの策を講じない場合は、こうした過渡現象によって、デバイスの絶対最大定格を超える可能性があります。
過渡現象に対処する一般的な方法は、以下のとおりです。
入力容量の近似値は、式 8 を使用して推定できます。

ここで、
一部のアプリケーションでは、過渡状態においてデバイスの絶対最大定格を超えないように、過渡電圧サプレッサ (TVS) を追加する必要があります。これらの過渡は、車載用 ISO7637 パルスなどの EMC テスト中に発生する可能性があります。