JAJSVV5A December 2024 – June 2025 MSPM0L1116 , MSPM0L1117
PRODUCTION DATA
デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。
| パラメータ | テスト条件 | 最小値 | 標準値 | 最大値 | 単位 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 電源 | ||||||
| VDDPGM/ERASE | 書き込みと消去の電源電圧 | 1.62 | 3.6 | V | ||
| IDDERASE | 消去動作中の VDD からの電源電流 | 電源電流の差分 | 10 | mA | ||
| IDDPGM | 書き込み動作中の VDD からの電源電流 | 電源電流の差分 | 10 | mA | ||
| 耐久性 | ||||||
| NWEC (HI_ENDURANCE) | 選択された 32 セクタのフラッシュに対する消去 / 書き込みサイクル耐久性 (1) | 100 | k サイクル | |||
| NWEC (NORMAL_ENDURANCE) | 消去 / 書き込みサイクル耐久性 (HI_ENDUSTRY にフラッシュを使用しない) (1) | 10 | k サイクル | |||
| NE(MAX) | 故障に至るまでの全消去動作回数 (2) | 802 | k 回の消去動作 | |||
| NW(MAX) | セクタが消去されるまでのワード線あたりの書き込み動作回数 (3) | 83 | 書き込み動作 | |||
| 保持 | ||||||
| tRET_85 | フラッシュ メモリのデータ保持 | -40℃ ≦ Tj ≦ 85℃ | 60 | 年 | ||
| tRET_105 | フラッシュ メモリのデータ保持 | -40℃ ≦ Tj ≦ 105℃ | 11.4 | 年 | ||
| 書き込みと消去のタイミング | ||||||
| tPROG (WORD, 64) | フラッシュ ワードの書き込み時間 (4) (6) | 50 | 275 | μs | ||
| tPROG (SEC, 64) | 1KB セクタの書き込み時間 (5) (6) | 6.4 | ms | |||
| tERASE (SEC) | セクタの消去時間 | 2k 以下の消去 / 書き込みサイクル、Tj≧25℃ | 4 | 20 | ms | |
| tERASE (SEC) | セクタの消去時間 | 10k 以下の消去 / 書き込みサイクル、Tj≧25℃ | 20 | 150 | ms | |
| tERASE (SEC) | セクタの消去時間 | 10k 未満の消去 / 書き込みサイクル | 20 | 200 | ms | |
| tERASE (BANK) | バンクの消去時間 | 10k 未満の消去 / 書き込みサイクル | 22 | 220 | ms | |