JAJSGC9B October   2018  – May 2019 TPS22919

PRODUCTION DATA.  

  1. 特長
  2. アプリケーション
  3. 概要
    1.     Device Images
      1.      概略回路図
  4. 改訂履歴
  5. Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  6. Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information
    5. 6.5 Electrical Characteristics
    6. 6.6 Switching Characteristics
    7. 6.7 Typical Characteristics
  7. Parameter Measurement Information
    1. 7.1 Test Circuit and Timing Waveforms Diagrams
  8. Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 On and Off Control
      2. 8.3.2 Output Short Circuit Protection (ISC)
      3. 8.3.3 Fall Time (tFALL) and Quick Output Discharge (QOD)
        1. 8.3.3.1 QOD When System Power is Removed
    4. 8.4 Device Functional Modes
  9. Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
    2. 9.2 Typical Application
      1. 9.2.1 Design Requirements
      2. 9.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 9.2.2.1 Limiting Inrush Current
        2. 9.2.2.2 Setting Fall Time for Shutdown Power Sequencing
        3. 9.2.2.3 Application Curves
  10. 10Power Supply Recommendations
  11. 11Layout
    1. 11.1 Layout Guidelines
    2. 11.2 Layout Example
    3. 11.3 Thermal Considerations
  12. 12デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 12.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 12.2 コミュニティ・リソース
    3. 12.3 商標
    4. 12.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 12.5 Glossary
  13. 13メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

Thermal Information

THERMAL METRIC(1) TPS22919 UNIT
DCK (SC-70)
PINS
RθJA Junction-to-ambient thermal resistance 210.7 °C/W
RθJC(top) Junction-to-case (top) thermal resistance 142.0 °C/W
RθJB Junction-to-board thermal resistance 69.0 °C/W
ΨJT Junction-to-top characterization parameter 52.7 °C/W
ΨJB Junction-to-board characterization parameter 68.8 °C/W
For more information about traditional and new thermal metrics, see the Semiconductor and IC Package Thermal Metrics application report.