NEST157 May 2025 ADC32RF52 , ADC32RF54 , ADC32RF55 , ADC32RF72 , ADC34RF52 , ADC34RF55 , ADC34RF72
超奈奎斯特取樣,中頻 (IF) 取樣與次取樣在許多採用軟體定義無線電 (SDR) 或類似雷達的接收器架構的頻率架構應用中都很受歡迎 (請參閱圖 1)。
規劃基頻外頻率 (第一個奈奎斯特(Nyquist)) 的主要原因有兩個。第一個原因是獲得抗混疊濾波器設計 (AAF) 上的鬆弛限制 (請參閱圖 2)。一開始,在設計基頻濾波器時,一般濾波器滾降必須要更高,而非較高 奈奎斯特(Nyquist)區域的濾波器設計。更陡峭的濾清器滾降會導致濾清器更複雜,被動元件會變得更麻煩。這是簡單的物理學原理;您無法購買 0201 尺寸的 100µH 電感器。因此,若採用較高的奈奎斯特(Nyquist)區域且可能採用較高的取樣率,帶阻區內滾降的取捨和要求就會較為放鬆,進而產生較少元件與較小元件尺寸。
使用高頻次取樣技術的第二個原因,是放鬆 ADC 前的射頻 (RF) 接收器訊號鏈。假設 ADC 可支援超越第一個奈奎斯特(Nyquist)的頻寬需求 (這種情況幾乎總是如此) ,放鬆接收器訊號鏈即可免除射頻(RF)訊號鏈中的一個或甚至兩個混頻階段,進而產生更少的元件,更少的雜訊及更低的複雜性。
例如,圖 3顯示了德州儀器 (TI) ADC3669 相對於 500 MSPS 取樣頻率 (fs) 以 800MHz 的中頻進行取樣。基本上,訊號位於第四奈奎斯特(Nyquist)區域。感興趣頻率的影像或混疊會反射回以 200MHz 訊號出現的第一個奈奎斯特(Nyquist)區域。最快速的傅立葉轉換 (FFT) 分析器,如高速資料轉換器 Pro,只會繪製第一個奈奎斯特(Nyquist)區域的 FFT ,或 0F 至 0.5F。因此,如果感興趣的頻率高於 0.5Fs ,影像就會向下反射至第一個奈奎斯特(Nyquist)區域或基頻。如果雜散色調也在感興趣的頻段中,這會使問題變得混亂。
那麼 ADC 取樣高於 0.5Fs 仍要如何符合奈奎斯特(Nyquist)區域標準?奈奎斯特(Nyquist)區域規則規定訊號必須以等於或大於頻寬兩倍的速率進行取樣,以保留訊號的所有資訊 (請參閱方程式 1) :
其中 fs 是取樣頻率, FBW 是感興趣的最大頻率。
要讓奈奎斯特(Nyquist)規則為真,關鍵在於感興趣頻率的位置。只要訊號不重疊並保持在單一奈奎斯特(Nyquist)內, 奈奎斯特(Nyquist)準則仍維持不變。唯一變更的是第一個奈奎斯特(Nyquist)的位置變成更高的區域。因為這些取捨而使取樣變得非常普及。