Calculadoras de confiabilidad
Las siguientes calculadoras se pueden utilizar para ayudar a modelar la vida útil estimada de los productos en diversas condiciones de confiabilidad o uso y no están destinadas a utilizarse para un análisis detallado de confiabilidad.
Estas calculadoras se basan en las fórmulas aceptadas por la industria y JEDEC (p. ej. JEP122G, JESD47) como se indica. TI no certifica ni garantiza la exactitud de ningún resultado del cálculo y no proporciona ningún dato para ingresar en la calculadora.
Tamaño de la muestra de aceptación
Determine el mejor tamaño de muestra para las pruebas de calidad ingresando su nivel de confianza de piezas defectuosas por millón (DPPM) objetivo (normalmente 60 %) y el número esperado de fallos.
Calculadora de AFR a FIT para distribución log-normal
Obtenga cálculos precisos de la tasa media de fallas (AFR) en el tiempo (FIT) para el análisis de confiabilidad de los semiconductores. Ingrese sus parámetros de forma y escala junto con los rangos de tiempo para determinar las tasas de fallas de mecanismos como la corrosión, la electromigración y las fallas relacionadas con defectos.
AFR FIT para la distribución de Weibull
Calcule las tasas de falla para los mecanismos de fallos de "enlaces más débiles", como la avería dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB), la fatiga térmica de las juntas de soldadura y los fallos mecánicos mediante el modelado de la distribución de Weibull.
Tamaño de muestra de piezas defectuosas por millón (DPPM)
Calcule las piezas defectuosas por millón (DPPM) a partir del tamaño de su muestra, el número de fallos y el nivel de confianza de chi cuadrado (normalmente 60 %) para determinar el rendimiento de calidad.
Fracción de fallo y AFR FIT
Calcule las tasas FIT y las tasas medias de fallos (AFR) ingresando los datos de la muestra: número de unidades probadas, horas de funcionamiento y fallos observados para determinar el rendimiento de confiabilidad esperado a largo plazo.
FIT del cambio de temperatura
Calcule cómo afectan los cambios de temperatura a las tasas de fallos ingresando la temperatura de calificación, la temperatura de aplicación y los datos de las FIT base de referencia mediante el modelado de la ecuación de Arrhenius.
Ejemplo: si tiene una FIT de 16.7 a una temperatura de referencia de 55 °C, puede predecir que la FIT a una temperatura de aplicación de 75 °C será de 69.2 °C con 0.7 Ea
Limitaciones importantes en el uso de datos
TI proporciona estos datos para su comodidad. Sin embargo, existen limitaciones significativas de su utilidad como indicador del rendimiento de las piezas de TI (incluido el software relacionado) cuando se utilizan en diversas aplicaciones.
ESTOS DATOS SE PROPORCIONAN "TAL CUAL" SIN NINGÚN GARANTÍA EXPRESA O IMPLÍCITA DE NINGÚN TIPO INCLUIDAS LAS GARANTÍAS DE COMERCIABILIDAD, NO INFRACCIÓN DE LA PROPIEDAD INTELECTUAL O IDONEIDAD PARA CUALQUIER FIN DETERMINADO. EN NINGÚN CASO TI O SUS PROVEEDORES SERÁN RESPONSABLES POR NINGÚN DAÑO (INCLUIDOS, ENTRE OTROS, DAÑOS POR PÉRDIDA DE BENEFICIOS, INTERRUPCIÓN DEL NEGOCIO, PÉRDIDA DE INFORMACIÓN) QUE SURJAN DEL USO O LA IMPOSIBILIDAD DE USAR LA INFORMACIÓN, INCLUSO SI SE HA ADVERTIDO LA POSIBILIDAD DE DICHOS DAÑOS.
Su uso de estos datos, y todas sus consecuencias, es su única responsabilidad. Debe realizar suficientes tareas de ingeniería y pruebas de calificación adicionales para evaluar adecuadamente su aplicación y determinar si una pieza de TI candidata es adecuada para su uso en esa aplicación.
Las piezas de TI se diseñan y fabrican específicamente para utilizarse dentro de los parámetros eléctricos, térmicos, mecánicos y de otro tipo establecidos en las hojas de datos de los productos de TI. Los datos de calidad y confiabilidad que proporciona TI, como el tiempo medio entre fallos (MTBF) y la tasa de fallos en el tiempo (FIT), tienen como objetivo facilitar una estimación del rendimiento de la pieza según las especificaciones, basada únicamente en las observaciones históricas de la pieza. No debe interpretarse que los niveles de rendimiento reflejados en estos datos pueden cumplirse si la pieza funciona fuera de las condiciones adecuadas o de las condiciones descritas. Además, la precisión de cualquier proyección está sujeta a muchos factores que están fuera del control o conocimiento de TI. Los usuarios deben evaluar cuidadosamente el valor predictivo a la luz de factores adicionales, según proceda.
ESTA INFORMACIÓN NO DEBE UTILIZARSE PARA AYUDAR EN LA PRÁCTICA DE AUMENTAR LA "CALIFICACIÓN" O LA "VALORACIÓN" DE LAS PIEZAS PARA SU USO EN APLICACIONES MILITARES U OTRAS APLICACIONES CRÍTICAS. Las piezas semiconductoras de TI encapsuladas en plástico no se diseñaron para su uso en aplicaciones militares o entornos militares. Esta información presenta limitaciones significativas como indicador del funcionamiento de las piezas comerciales listas para usar (COTS) en aplicaciones o entornos extraordinarios y respecto a los peligros de usar piezas COTS en tales aplicaciones. TI cree firmemente que las piezas nunca deben utilizarse fuera de sus niveles de tolerancia especificados, ya que el aumento de la valoración puede provocar directamente un fallo en la pieza o el sistema. TI no puede aceptar ninguna responsabilidad por fallos en piezas o sistemas que se produzcan debido al uso indebido de sus productos. Además, cualquier uso de una pieza de TI más allá de un límite especificado en su hoja de datos oficial de TI anula toda responsabilidad de TI relacionada con la garantía.
La reventa de piezas de TI con declaraciones diferentes o que excedan los parámetros que establece TI para esas piezas en hojas de datos o libros de datos de TI oficiales, o sin las advertencias o las instrucciones que proporciona TI, anula todas las garantías expresas e implícitas asociadas a la pieza de TI y constituye una práctica comercial desleal y engañosa.
Para obtener más información, comuníquese con el servicio de atención al cliente de TI.