Herramienta de cálculo
ADC12DJ5200RF-CALC — ADC12DJ5200RF input network full-scale calculation tool.
Calculation tool referenced in application note SLVAFZ7.
ADC12DJ5200-SEP
ADC con tolerancia a la radiación, 30 krad, 12 bits, doble de 5.2 GSPS o único de 10.4 GSPS
Hoja de datos
ADC12DJ5200-SEP
- Radiation Tolerance:
- Total Ionizing Dose (TID): 30krad (Si)
- Single Event Latchup (SEL): 43 MeV-cm2/mg
- Single Event Upset (SEU) immune registers
- Space-enhanced plastic (space EP):
- Meets ASTM E595 out-gassing specification
- Vendor item drawing (VID) V62/22611
- Temperature range: –55°C to 125°C
- One fabrication, assembly, and test site
- Wafer lot traceability
- Extended product life cycle
- Extended product change notification
- ADC core:
- 12-bit resolution
- Up to 10.4GSPS in single-channel mode
- Up to 5.2GSPS in dual-channel mode
- Performance specifications:
- Noise floor (–20dBFS, VFS = 1VPP-DIFF):
- Dual-channel mode: –151.8dBFS/Hz
- Single-channel mode: –154.4dBFS/Hz
- ENOB (dual channel, FIN = 2.4GHz): 8.6 Bits
- Noise floor (–20dBFS, VFS = 1VPP-DIFF):
- Buffered analog inputs with VCMI of 0V:
- Analog input bandwidth (–3dB): 8GHz
- Usable input frequency range: > 10GHz
- Full-scale input voltage (VFS, default): 0.8VPP
- Noiseless aperture delay (tAD) adjustment:
- Precise sampling control: 19-fs Step
- Simplifies synchronization and interleaving
- Temperature and voltage invariant delays
- Easy-to-use synchronization features:
- Automatic SYSREF timing calibration
- Time stamp for sample marking
- JESD204C serial data interface:
- Maximum lane rate: 17.16Gbps
- Support for 64b/66b and 8b/10b encoding
- 8b/10b modes are JESD204B compatible
- Optional digital down-converters (DDC):
- Complex decimation: 4x (IBW = 0.2*FS = 2.08GHz in DES mode, 1.04GHz per channel in dual channel mode), 8x, 16x and 32x
- Four independent 32-Bit NCOs per DDC
- Peak RF Input Power (Diff): +26.5dBm (+ 27.5dBFS, 560x fullscale power)
- Programmable FIR filter for equalization
- Power consumption: 4W
- Power supplies: 1.1V, 1.9V
The ADC12DJ5200-SEP device is an RF-sampling, giga-sample, analog-to-digital converter (ADC) that can directly sample input frequencies from DC to above 10GHz. ADC12DJ5200-SEP can be configured as a dual-channel, 5.2GSPS ADC or single-channel, 10.4GSPS ADC. Support of a useable input frequency range of up to 10GHz enables direct RF sampling of L-band, S-band, C-band, and X-band for frequency agile systems.
The ADC12DJ5200-SEP uses a high-speed JESD204C output interface with up to 16 serialized lanes supporting up to 17.16Gbps line rate. Deterministic latency and multi-device synchronization is supported through JESD204C subclass-1. The JESD204C interface can be configured to trade-off line rate and number of lanes. Both 8b/10b and 64b/66b data encoding schemes are supported. 64b/66b encoding supports forward error correction (FEC) for improved bit error rates. The interface is backwards compatible with JESD204B receivers.
Innovative synchronization features, including noiseless aperture delay adjustment and SYSREF windowing, simplify system design for multichannel applications. Optional digital down converters (DDCs) are available to provide digital conversion to base-band and to reduce the interface rate. A programmable FIR filter allows on-chip equalization.
Documentación técnica
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Ver todo 2 | Tipo | Título | Fecha | ||
|---|---|---|---|---|
| * | Data sheet | ADC12DJ5200-SEP 10.4GSPS Single-Channel or 5.2GSPS Dual-Channel, 12-bit, RF-Sampling Analog-to-Digital Converter (ADC) datasheet (Rev. A) | PDF | HTML | 08 abr 2025 |
| * | Radiation & reliability report | ADC12DJ5200-SEP Production Flow and Reliability Report (Rev. A) | PDF | HTML | 12 mar 2025 |
Diseño y desarrollo
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Design guide: PDF
| Encapsulado | Pines | Símbolos CAD, huellas y modelos 3D |
|---|---|---|
| FCCSP (ALR) | 144 | Ultra Librarian |
Pedidos y calidad
Información incluida:
- RoHS
- REACH
- Marcado del dispositivo
- Acabado de plomo/material de la bola
- Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
- Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
- Contenido del material
- Resumen de calificaciones
- Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
- Lugar de fabricación
- Lugar de ensamblaje
Los productos recomendados pueden tener parámetros, módulos de evaluación o diseños de referencia relacionados con este producto de TI.
Soporte y capacitación
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