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SN74LV1T126-Q1

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Puerta de búfer única con salida de 3 estados (activación alta activa) y fuente de alimentación únic

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SN74LV1T126-Q1

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Detalles del producto

Bits (#) 1 Data rate (max) (Mbps) 150 Topology Push-Pull Direction control (typ) Fixed-direction Vin (min) (V) 1.65 Vin (max) (V) 5.5 Vout (min) (V) 1.65 Vout (max) (V) 5.5 Applications GPIO Features Overvoltage tolerant inputs, Single supply Technology family LV1T Supply current (max) (mA) 0.0055 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
Bits (#) 1 Data rate (max) (Mbps) 150 Topology Push-Pull Direction control (typ) Fixed-direction Vin (min) (V) 1.65 Vin (max) (V) 5.5 Vout (min) (V) 1.65 Vout (max) (V) 5.5 Applications GPIO Features Overvoltage tolerant inputs, Single supply Technology family LV1T Supply current (max) (mA) 0.0055 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² 2.9 x 2.8 SOT-SC70 (DCK) 5 4.2 mm² 2 x 2.1

  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:

    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

    • Device HBM ESD classification level 2

    • Device CDM ESD classification level C4B

  • Wide operating range of 1.8 V to 5.5 V

  • Single-supply voltage translator (refer to LVxT Enhanced Input Voltage):

    • Up translation:

      • 1.2 V to 1.8 V

      • 1.5 V to 2.5 V

      • 1.8 V to 3.3 V

      • 3.3 V to 5.0 V

    • Down translation:

      • 5.0 V, 3.3 V, 2.5 V to 1.8 V
      • 5.0 V, 3.3 V to 2.5 V
      • 5.0 V to 3.3 V
  • 5.5-V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150 Mbps with 5-V or 3.3-V V CC
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17

  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:

    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

    • Device HBM ESD classification level 2

    • Device CDM ESD classification level C4B

  • Wide operating range of 1.8 V to 5.5 V

  • Single-supply voltage translator (refer to LVxT Enhanced Input Voltage):

    • Up translation:

      • 1.2 V to 1.8 V

      • 1.5 V to 2.5 V

      • 1.8 V to 3.3 V

      • 3.3 V to 5.0 V

    • Down translation:

      • 5.0 V, 3.3 V, 2.5 V to 1.8 V
      • 5.0 V, 3.3 V to 2.5 V
      • 5.0 V to 3.3 V
  • 5.5-V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150 Mbps with 5-V or 3.3-V V CC
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17

The SN74LV1T126-Q1 is a single buffer gate with 3-state outputs and integrated voltage translation. This buffer performs the Boolean function Y = A in positive logic. The outputs can be placed into a Hi-Z state by applying a Low on the OE pin. The output level is referenced to the supply voltage (V CC) and supports 1.8-V, 2.5-V, 3.3-V, and 5-V CMOS levels.

The input is designed with a lower threshold circuit to support up translation for lower voltage CMOS inputs (for example, 1.2 V input to 1.8 V output or 1.8 V input to 3.3 V output). In addition, the 5-V tolerant input pins enable down translation (for example, 3.3 V to 2.5 V output).

The SN74LV1T126-Q1 is a single buffer gate with 3-state outputs and integrated voltage translation. This buffer performs the Boolean function Y = A in positive logic. The outputs can be placed into a Hi-Z state by applying a Low on the OE pin. The output level is referenced to the supply voltage (V CC) and supports 1.8-V, 2.5-V, 3.3-V, and 5-V CMOS levels.

The input is designed with a lower threshold circuit to support up translation for lower voltage CMOS inputs (for example, 1.2 V input to 1.8 V output or 1.8 V input to 3.3 V output). In addition, the 5-V tolerant input pins enable down translation (for example, 3.3 V to 2.5 V output).
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet SN74LV1T126-Q1 AutomotiveSingle Buffer Gate With 3-State Output and Integrated Translation datasheet (Rev. A) PDF | HTML 16 nov 2023
Application note Schematic Checklist - A Guide to Designing With Fixed or Direction Control Translators PDF | HTML 02 oct 2024
Application note Schematic Checklist - A Guide to Designing with Auto-Bidirectional Translators PDF | HTML 12 jul 2024
Application note Understanding Transient Drive Strength vs. DC Drive Strength in Level-Shifters (Rev. A) PDF | HTML 03 jul 2024

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

5-8-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación de lógico genérico para encapsulados DCK, DCT, DCU, DRL y DBV,de 5- a 8-pines

EVM flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo que tenga un encapsulado DCK, DCT, DCU, DRL o DBV y entre 5 y 8 pines.
Guía del usuario: PDF
No disponible en TI.com
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
SOT-SC70 (DCK) 5 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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