AFE7954
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- Quad RF sampling 12-GSPS DACs
- Maximum RF signal bandwidth:
- 4TX: 1200 MHz or
- 2TX: 2400 MHz
- RF frequency range: 600 MHz - 12 GHz
- Digital step attenuators (DSA):
- TX: 40 dB range, 0.125-dB steps
- Single or dual-band DUCs
- 16x NCOs per TX
- Optional Internal PLL/VCO for DAC or external clock at DAC sample rate
- SerDes data interface:
- JESD204B and JESD204C compatible
- 8 SerDes receivers up to 29.5 Gbps
- Subclass 1 multi-device synchronization
- Package: 17-mm × 17-mm FCBGA, 0.8-mm pitch
The AFE7954 is a high performance, wide bandwidth quad channel RF sampling DAC. With operation up to 12 GHz, this device enables direct RF sampling in the L, S, C and X-band frequency ranges without the need for additional frequency conversions stages. This improvement in density and flexibility enables high-channel-count, multi-mission systems.
The signal paths support interpolation and digital up conversion options that deliver up to 1200 MHz of signal bandwidth for four DACs (TX) or 2400 MHz for two DACs. The output of the DUCs drives a 12-GSPS DAC (digital to analog converter) with a mixed mode output option to enhance 2nd Nyquist operation. The DAC output includes a variable gain amplifier (TX DSA) with 40-dB range and 1-dB analog and 0.125-dB digital steps.
技術文件
| 類型 | 標題 | 日期 | ||
|---|---|---|---|---|
| * | Data sheet | AFE7954 Quad RF Sampling 12 GSPS Digital-to-Analog Converter (DAC) datasheet | PDF | HTML | 2022年 9月 14日 |
設計與開發
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AFE7950EVM — 適用於四傳輸、六接收、X 頻段、射頻取樣 AFE 的 AFE7950 評估模組
AFE7950 評估模組 (EVM) 是射頻取樣收發器與平台，可配置為可同時支援最多同時四個發射與六個接收 (4T6R) 通道。評估 AFE7950 的模組是配備 14 位元 12-GSPS 數位轉類比轉換器 (DAC)、14 位元 3-GSPS 類比轉數位轉換器 (ADC)，以及適用於 DAC 和 ADC 高頻率時脈產生的晶片整合式相鎖迴路 (PLL)/電壓控制振盪器 (PLL/VCO) 之四通道射頻取樣類比前端 (AFE)。
AFE7950EVM 可選擇在每個通道中使用雙數位上變頻器和下變頻器，以同時合成及數位化具有高動態範圍的多個寬頻訊號。支援接收器通道的晶片整合式數位步進衰減器 (...)
| 封裝 | 引腳 | 下載 |
|---|---|---|
| FCBGA (ABJ) | 400 | 檢視選項 |
| FCBGA (ALK) | 400 | 檢視選項 |
訂購與品質
- RoHS
- REACH
- 產品標記
- 鉛塗層/球物料
- MSL 等級/回焊峰值
- MTBF/FIT 估算值
- 材料內容
- 資格摘要
- 進行中可靠性監測
- 晶圓廠位置
- 組裝地點
建議產品可能具有與此 TI 產品相關的參數、評估模組或參考設計。