HIL-Prüfgerät für Schnittstellen und Kommunikation im Automobilbereich

Produkte und Referenzdesigns

HIL-Prüfgerät für Schnittstellen und Kommunikation im Automobilbereich

Blockschaltbild

Überblick

Unsere integrierten Schaltkreise und Referenzdesigns unterstützen Sie bei der Entwicklung eines hochpräzisen Prüfgeräts für Kommunikationshardware in Schleife (HIL) für die Automobilindustrie zur exakten Prüfung aller Subsysteme während der Fertigung und Wartung des Fahrzeugs.

Designanforderungen

HIL-Tester-Designs der neuen Generation für Automobilschnittstellen und Kommunikation erfordern:

  • Hochgeschwindigkeits-Sende- und Empfangssignalkettenlösungen für Radar- und drahtlose Kommunikationstests in der Automobilindustrie.
  • Hochspannungs- und Stromquellenmesseinheiten für Antriebssysteme von Elektrofahrzeugen (EV).
  • Hochgeschwindigkeits-Protokollanalysatoren für serielle Bustests.
  • Hochpräzise Spektrumanalysatoren für EMI/EMV-Konformitätstests.

Herunterladen Video mit Transkript ansehen Video

Blockschaltbild

Finden Sie Produkte und Referenzdesigns für Ihr System.

Technische Dokumentation

Keine Ergebnisse gefunden. Bitte geben Sie einen anderen Begriff ein und versuchen Sie es erneut.
Alle anzeigen 10
Typ Titel Neueste englische Version herunterladen Datum
Anwendungshinweis Clocking Optimization for RF Sampling Analog-to-Digital Converters (Rev. A) PDF | HTML 07.04.2021
Whitepaper Voltage-reference impact on total harmonic distortion 01.08.2016
Anwendungshinweis 66AK2L06 JESD Attach to ADC12J4000/DAC38J84 Getting Started Guide (Rev. B) 20.06.2016
Whitepaper Minimum Power Specifications for High-Performance ADC Power-Supply Designs 31.03.2016
Analog Design Journal Power-supply design for high-speed ADCs (Rev. A) 18.05.2015
Analog Design Journal JESD204B multi-device synchronization: Breaking down the requirements 28.04.2015
Anwendungshinweis Principles of Data Acquisition and Conversion (Rev. A) PDF | HTML 16.04.2015
Whitepaper Direct RF conversion: From vision to reality 11.02.2015
Anwendungshinweis Signal Chain Noise Figure Analysis 29.10.2014
Analog Design Journal Impact of sampling-clock spurs on ADC performance 14.07.2009

Support und Schulungen

TI E2E™-Foren mit technischem Support von TI-Ingenieuren

Alle Forenthemen auf Englisch anzeigen

Inhalte werden ohne Gewähr von TI und der Community bereitgestellt. Sie stellen keine Spezifikationen von TI dar. Siehe Nutzungsbedingungen.

Bei Fragen zu den Themen Qualität, Gehäuse oder Bestellung von TI-Produkten siehe TI-Support.

Videos