Dieses Referenzdesign verfügt über eine in den mmWave-Radarsensoren eingebaute autonome Überwachungsfunktion, die die Systemeffizienz durch Minimierung der Verarbeitungslast auf dem Host erhöht. Dieses Design verwendet eine Sicherheitsdiagnosebibliothek (SDL), um Diagnoseprüfungen für programmierbare digitale Kerne, Peripheriegeräte und Speicher durchzuführen. Das Design konfiguriert und aktiviert auch die HF- und Analogmonitorfunktionen verschiedener Hardwarekomponenten. Dieses Referenzdesign unterstützt den Benutzer bei der Implementierung seiner mit den verschiedenen Sicherheitsressourcen konformen Produkte gemäß Automotive Safety Integrity Level (ASIL B) und Safety Integrity Level (SIL 2), beschleunigt die Entwicklungszeit und verkürzt die Zeit bis zur Markteinführung.
Eine voll bestückte Platine wurde nur für Test- und Leistungsvalidierung entwickelt. Sie wird nicht zum Verkauf angeboten.
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Überblick über Referenzdesigns und verifizierte Leistungstestdaten
Detaillierter Überblick über das Design-Layout zur Bestimmung der Position der Komponenten
Vollständige Liste mit Designkomponenten, Referenz-Bezeichnern und Hersteller-/Teilenummern
Designdatei mit Informationen zur physikalischen Platinenschicht der Design-Platine
Leiterplattenschicht-Plotdatei zur Erstellung des Design-Layouts der Leiterplatte
Detailliertes Schaltplandiagramm für Design-Layout und Komponenten
Enthält TI-Produkte in der Entwicklung und mögliche Alternativen.
| Typ | Titel | Neueste englische Version herunterladen | Datum | ||
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| * | Designleitfaden | mmWave Diagnostic and Monitoring for High-End Corner Radar Reference Design | PDF | HTML | 27.02.2024 |
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