TPD4E110DPWEVM
TPD4E110 SuperSpeed ESD 保護評価基板
TPD4E110DPWEVM
概要
TPD4E110DPWEVM には、テスト向けにさまざまな構成で 15 個の TPD4E110DPW が搭載されています。8 個の TPD4E110DPW は IEC61000-4-2 準拠テスト用に構成されており、2 個の TPD4E110DPW は 4 ポートの S パラメータ解析用に構成され、4 個は USB 3.0 タイプ A のスループット解析用に構成されています。また、この評価基板を使用すると、ESD 事象発生時のクランプ波形をキャプチャすることもできます。
特長
- 省スペースの 0.8mm x 0.8mm DPW パッケージ
- 低電圧 IO インターフェイスのシステムレベル ESD 保護
- IEC 61000-4-2 レベル 4 ESD 保護
- IO 容量：0.45pF (標準値)
- DC ブレークダウン電圧：6.5V (最小値)
購入と開発の開始
評価ボード
TPD4E110DPWEVM — TPD4E110DPWEVM: Super-Speed ESD 保護評価モジュール
TPD4E110DPWEVM — TPD4E110DPWEVM: Super-Speed ESD 保護評価モジュール
技術資料
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| 上位の文書 | タイプ | タイトル | フォーマットオプション | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | EVM ユーザー ガイド (英語) | TPD4E110DPW Evaluation Module (Rev. A) | 2016/10/06 | |||
| 証明書 | TPD4E110DPWEVM EU Declaration of Conformity (DoC) | 2019/01/02 |