TIPD144

具有磁滯功能的比較器參考設計

TIPD144

設計檔案

概覽

此 TI 驗證設計實作了具備磁滯現象的比較器。  比較器用於區分兩種不同的訊號位準。  例如,比較器可以區分過溫與正常溫度條件。  比較閾值處的雜訊或訊號變化會導致多次轉換。  磁滯設定了上限與下限閾值,以消除由雜訊引起的多次轉換。

特點
  • 模擬與驗證結果
  • 使用 3 個電阻器為比較器設定磁滯
  • PCB 支援單封裝與雙封裝
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已開發完全組裝的電路板,僅供測試與性能驗證,且為非賣品。

設計檔案與產品

設計檔案

下載立即可用的系統檔案以加速您的設計流程。

TIDR353.PDF (186 KB)

設計元件、參考指示項與製造商/零件編號的完整清單

TIDC507.ZIP (255 KB)

包含 PCB 設計中實體電路板層相關資訊的設計檔案

TIDC210.ZIP (613 KB)

設計佈線圖與元件的詳細電路圖

TIDR337.PDF (110 KB)

設計佈線圖與元件的詳細電路圖

產品

設計與潛在替代方案中包括 TI 產品。

比較器

LM397單路通用電壓比較器

產品規格表: PDF | HTML
比較器

TLV3401具有開漏輸出的一奈米功率高電壓比較器

產品規格表: PDF | HTML
比較器

TLV32015.5V 高速單推拉式比較器

產品規格表: PDF | HTML
比較器

TLV1702雙路高電壓、低功耗比較器

產品規格表: PDF | HTML
比較器

TLV1701單路高電壓、低功耗比較器

產品規格表: PDF | HTML
比較器

LMV7291具軌至軌輸入的單 1.8V 低功耗比較器

產品規格表: PDF

開始開發

軟體開發

支援軟體

TIDC236 — TIPD144 Simulation

支援產品和硬體

支援產品和硬體

硬體開發
參考設計
TIPD144 具有磁滯功能的比較器參考設計
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TIDC236 TIPD144 Simulation

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最新版本
版本: 01.00.00.00
發行日期: 2014/1/8
硬體開發
參考設計
TIPD144 具有磁滯功能的比較器參考設計

版本資訊

The design resource accessed as www.ti.com/lit/zip/tidc236 or www.ti.com/lit/xx/tidc236/tidc236.zip has been migrated to a new user experience at www.ti.com/tool/download/TIDC236. Please update any bookmarks accordingly.

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使用指南 Comparator With Hysteresis Design Guide (Rev. A) 2014/7/2

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