TIPD147

適用於示波器或頻譜分析儀的雜訊量測後置放大器

TIPD147

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概覽

In some cases a scope or spectrum analyzer does not have the range required to measure very small noise levels.  This noise measurement post-amp boosts the output noise of the device under test (DUT) to allow for measurement with standard test equipment. The key requirements of this circuit is that it has a low noise floor and sufficient bandwidth for characterization of most devices.

特點
  • Test Circuit to amplify noise above instrument noise floor
  • Wide bandwidth 0.016Hz to 443kHz
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已開發完全組裝的電路板,僅供測試與性能驗證,且為非賣品。

設計檔案與產品

設計檔案

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設計元件、參考指示項與製造商/零件編號的完整清單

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設計佈線圖與元件的詳細電路圖

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設計佈線圖與元件的詳細電路圖

產品

設計與潛在替代方案中包括 TI 產品。

精密運算放大器 (Vos<1mV)

OPA2111.1nV/rtHz 雜訊、低功耗精密運算放大器

產品規格表: PDF | HTML
高速運算放大器 (GBW ≥ 50 MHz)

OPA847具有關機功能的寬頻、超低雜訊、電壓回饋運算放大器

產品規格表: PDF

開始開發

軟體

支援軟體

TIDC233 — TIPD147 Simulation

支援產品和硬體

支援產品和硬體

硬體開發
參考設計
TIPD147 適用於示波器或頻譜分析儀的雜訊量測後置放大器
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TIDC233 TIPD147 Simulation

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最新版本
版本: 01.00.00.00
發行日期: 2014/1/8
硬體開發
參考設計
TIPD147 適用於示波器或頻譜分析儀的雜訊量測後置放大器

版本資訊

The design resource accessed as www.ti.com/lit/zip/tidc233 or www.ti.com/lit/xx/tidc233/tidc233.zip has been migrated to a new user experience at www.ti.com/tool/download/TIDC233. Please update any bookmarks accordingly.

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使用指南 Noise Measurement Post-Amp Design Guide 2013/12/10

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