Startseite Logik- & Spannungsumsetzung Puffer, Treiber & Transceiver Invertierende Puffer & Treiber
Startseite
Logik- & Spannungsumsetzung
Puffer, Treiber & Transceiver
Invertierende Puffer & Treiber

SN74HCT04-EP

AKTIV

Erweitertes Produkt 6-Kanal-Wechselrichter mit 4,5 bis 5,5 V und TTL-kompatiblen CMOS-Eingängen

Jetzt bestellen
Datenblatt

SN74HCT04-EP

AKTIV
Datenblatt Jetzt bestellen

Produktdetails

Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 6 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Supply current (max) (µA) 20 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Features Balanced outputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 85
Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 6 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Supply current (max) (µA) 20 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Features Balanced outputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 85
SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Operating Voltage Range of 4.5 V to 5.5 V
  • Outputs Can Drive Up To 10 LSTTL Loads
  • Low Power Consumption, 20-µA Max ICC
  • Typical tpd = 13 ns
  • ±4-mA Output Drive at 5 V
  • Low Input Current of 1 µA Max
  • Inputs Are TTL_Voltage Compatible

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Operating Voltage Range of 4.5 V to 5.5 V
  • Outputs Can Drive Up To 10 LSTTL Loads
  • Low Power Consumption, 20-µA Max ICC
  • Typical tpd = 13 ns
  • ±4-mA Output Drive at 5 V
  • Low Input Current of 1 µA Max
  • Inputs Are TTL_Voltage Compatible

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

This device contains six independent inverters. It performs the Boolean function Y = A\ in a positive logic.

This device contains six independent inverters. It performs the Boolean function Y = A\ in a positive logic.
open-in-new Andere Invertierende Puffer & Treiber suchen
Herunterladen Video mit Transkript ansehen Video

Technische Dokumentation

star =Von TI ausgewählte Top-Empfehlungen für dieses Produkt
Keine Ergebnisse gefunden. Bitte geben Sie einen anderen Begriff ein und versuchen Sie es erneut.
Alle anzeigen 14
Typ Titel Datum
* Data sheet SN74HCT04-EP datasheet 06 Jan 2004
* VID SN74HCT04-EP VID V6204697 21 Jun 2016
* Radiation & reliability report SN74HCT04IDREP Reliability Report 07 Jan 2013
Application note Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 26 Jul 2021
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 12 Jun 2017
Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 02 Dez 2015
User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 16 Jan 2007
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 08 Jul 2004
User guide Signal Switch Data Book (Rev. A) 14 Nov 2003
Application note TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 29 Aug 2002
Application note CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 01 Jun 1997
Application note Designing With Logic (Rev. C) 01 Jun 1997
Application note SN54/74HCT CMOS Logic Family Applications and Restrictions 01 Mai 1996
Application note Using High Speed CMOS and Advanced CMOS in Systems With Multiple Vcc 01 Apr 1996

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Gehäuse Pins Herunterladen
SOIC (D) 14 Optionen anzeigen
Es gelten die allgemeinen Geschäftsbedingungen von TI für Evaluierungsartikel.

Bestellen & Qualität

Beinhaltete Information:
  • RoHS
  • REACH
  • Bausteinkennzeichnung
  • Blei-Finish/Ball-Material
  • MSL-Rating / Spitzenrückfluss
  • MTBF-/FIT-Schätzungen
  • Materialinhalt
  • Qualifikationszusammenfassung
  • Kontinuierliches Zuverlässigkeitsmonitoring
Beinhaltete Information:
  • Werksstandort
  • Montagestandort

Support und Schulungen

TI E2E™-Foren mit technischem Support von TI-Ingenieuren

Alle Forenthemen auf Englisch anzeigen

Inhalte werden ohne Gewähr von TI und der Community bereitgestellt. Sie stellen keine Spezifikationen von TI dar. Siehe Nutzungsbedingungen.

Bei Fragen zu den Themen Qualität, Gehäuse oder Bestellung von TI-Produkten siehe TI-Support. ​​​​​​​​​​​​​​

Videos