JAJSGF7G May   2010  – November 2018 LM98640QML-SP

PRODUCTION DATA.  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
  4. 4 改訂履歴
  5. 5 Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  6. 6 Specifications
    1. 6.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 6.2 ESD Ratings    
    3. 6.3 Recommended Operating Conditions
    4. 6.4 Thermal Information         
    5. 6.5 Quality Conformance Inspection
    6. 6.6 LM98640QML-SP Electrical Characteristics
    7. 6.7 AC Timing Specifications
    8. 6.8 Typical Performance Characteristics
  7. 7 Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 Input Sampling Modes
        1. 7.3.1.1 Sample & Hold Mode
          1. 7.3.1.1.1 Sample & Hold Mode CLAMP/SAMPLE Adjust
        2. 7.3.1.2 CDS Mode
          1. 7.3.1.2.1 CDS Mode Bimodal Offset
          2. 7.3.1.2.2 CDS Mode CLAMP/SAMPLE Adjust
      2. 7.3.2 Input Bias and Clamping
        1. 7.3.2.1 Sample and Hold Mode Biasing
        2. 7.3.2.2 CDS Mode Biasing
        3. 7.3.2.3 VCLP DAC
      3. 7.3.3 Programmable Gain
        1. 7.3.3.1 CDS/SH Stage Gain
        2. 7.3.3.2 PGA Gain Plots
      4. 7.3.4 Programmable Analog Offset Correction
      5. 7.3.5 Analog to Digital Converter
      6. 7.3.6 LVDS Output
        1. 7.3.6.1 LVDS Output Voltage
        2. 7.3.6.2 LVDS Output Modes
        3. 7.3.6.3 TXFRM Output
          1. 7.3.6.3.1 Output Mode 1 - Dual Lane
          2. 7.3.6.3.2 Output Mode 2 - Quad Lane
      7. 7.3.7 Clock Receiver
      8. 7.3.8 Power Trimming
    4. 7.4 Device Functional Mode
      1. 7.4.1 Powerdown Modes
      2. 7.4.2 LVDS Test Modes
        1. 7.4.2.1 Test Mode 0 - Fixed Pattern
        2. 7.4.2.2 Test Mode 1 - Horizontal Gradient
        3. 7.4.2.3 Test Mode 2 - Vertical Gradient
        4. 7.4.2.4 Test Mode 3 - Lattice Pattern
        5. 7.4.2.5 Test Mode 4 - Stripe Pattern
        6. 7.4.2.6 Test Mode 5 - LVDS Test Pattern (Synchronous)
        7. 7.4.2.7 Test Mode 6 - LVDS Test Pattern (Asynchronous)
        8. 7.4.2.8 Pseudo Random Number Mode
    5. 7.5 Programming
      1. 7.5.1 Serial Interface
      2. 7.5.2 Writing to the Serial Registers
      3. 7.5.3 Reading the Serial Registers
      4. 7.5.4 Serial Interface Timing Details
    6. 7.6 Register Maps
      1. 7.6.1 Register Definitions
  8. 8 Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
      1. 8.1.1 Total Ionizing Dose
      2. 8.1.2 Single Event Latch-Up and Functional Interrupt
      3. 8.1.3 Single Event Effects
    2. 8.2 Typical Application
      1. 8.2.1 Sample/Hold Mode
    3. 8.3 Initialization Set Up
  9. 9 Layout
    1. 9.1 Layout Guidelines
      1. 9.1.1 Power Planes
      2. 9.1.2 Bypass Capacitors
      3. 9.1.3 Ground Plane
      4. 9.1.4 Thermal Management
  10. 10デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 10.1 デバイス・サポート
      1. 10.1.1 開発サポート
        1. 10.1.1.1 評価ボード
        2. 10.1.1.2 レジスタのプログラミング用ソフトウェア
    2. 10.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 10.3 コミュニティ・リソース
    4. 10.4 輸出管理に関する注意事項
    5. 10.5 商標
    6. 10.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 10.7 Glossary
  11. 11メカニカル、パッケージ、および注文情報
    1. 11.1 エンジニアリング・サンプル

パッケージ・オプション

デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
  • NBB|68
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

3 概要

LM98640QML-SPは完全に統合された、高性能の14ビット、5MSPS～40MSPSの信号処理ソリューションです。シリアルLVDS出力フォーマットは、シングル・イベントの暴露時に適切に動作し、データの消失を防止します。LM98640QML-SPには適応型電力スケーリング機能があり、動作周波数と必要なゲインに基づいて消費電力を最適化できます。相関二重サンプリング(CDS)を活用する革新的なアーキテクチャにより、高速な信号スループットを達成しています。この機能はCCDアレイや、サンプル・アンド・ホールド(S/H)入力（CISやCMOSの画像センサ用）に主に採用されるものです。サンプリング・エッジは、ピクセル期間の1/64の分解能にプログラム可能です。CDSとS/Hはどちらも、ゲインを0dBまたは6dBにプログラム可能です。信号パスは、2つの±8ビット・オフセット訂正DACを活用して粗および密のオフセット訂正を行い、8ビットのプログラム可能ゲイン・アンプ(PGA)を各入力について別々にプログラム可能です。その後信号は、2つのオンチップの14ビット、40MHz高性能A/Dコンバータ(ADC)に送られます。完全差動処理チャネルによりノイズ耐性が非常に優れており、1xゲインにおいてノイズ・フロアが-79dBと、非常に低い値を実現しています。

製品情報(1)

型番 グレード パッケージ
5962R1820301VXC QMLV RHA（SMD部品）
[100 krad(Si)]		 CQFP (68)
LM98640W-MLS フライトRHA（SMD以外の部品）
[100 krad(Si)]		 CQFP (68)
LM96840W-MPR エンジニアリング・サンプル(2) CQFP (68)
LM98640CVAL セラミック評価ボード EVM
  1. 利用可能なすべてのパッケージについては、このデータシートの末尾にある注文情報を参照してください。
  2. これらのユニットは、技術的な評価のみを目的としています。標準とは異なるフローに従って処理されています。これらのユニットは、認定、量産、放射線テスト、航空での使用には適していません。これらの部品は、MILの定格温度範囲-55°C～125°C、または動作寿命全体にわたる性能を保証されていません。