JAJSS65 November   2023 SN74LV4T00-EP

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特長
  3. アプリケーション
  4. 概要
  5. Pin Configuration and Functions
  6. Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information
    5. 5.5 Electrical Characteristics
    6. 5.6 Switching Characteristics
    7. 5.7 Noise Characteristics
    8. 5.8 Typical Characteristics
  7. Parameter Measurement Information
  8. Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 Balanced CMOS 3-State Outputs
      2. 7.3.2 Clamp Diode Structure
      3. 7.3.3 LVxT Enhanced Input Voltage
        1. 7.3.3.1 Down Translation
        2. 7.3.3.2 Up Translation
    4. 7.4 Device Functional Modes
  9. Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Application
      1. 8.2.1 Design Requirements
        1. 8.2.1.1 Power Considerations
        2. 8.2.1.2 Input Considerations
        3. 8.2.1.3 Output Considerations
      2. 8.2.2 Application Curves
  10. Power Supply Recommendations
  11. 10Layout
    1. 10.1 Layout Guidelines
    2. 10.2 Layout Example
  12. 11Device and Documentation Support
    1. 11.1 Documentation Support
      1. 11.1.1 Related Documentation
    2. 11.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 11.3 サポート・リソース
    4. 11.4 Trademarks
    5. 11.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 11.6 用語集
  13. 12Revision History
  14. 13Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
  • PW|14
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

特長

  • 幅広い動作範囲:1.8V~5.5V
  • 単一電源電圧トランスレータ (「LVxT 拡張入力電圧」を参照):

    • 昇圧変換:

      • 1.2V から 1.8V

      • 1.5V から 2.5V

      • 1.8V から 3.3V

      • 3.3V から 5.0V

    • 降圧変換:

      • 5.0V、3.3V、2.5V から 1.8V
      • 5.0V、3.3V から 2.5V
      • 5.0V から 3.3V
  • 5.5V 許容入力ピン
  • 標準ピン配置をサポート
  • 5V または 3.3V の VCC で最大 150Mbps
  • JESD 17 準拠で 250mA 超のラッチアップ性能
  • 防衛、航空宇宙、医療アプリケーションをサポート:
    • 管理されたベースライン
    • 単一のアセンブリおよびテスト施設
    • 単一の製造施設
    • 製品ライフ・サイクルの長期化
    • 製品のトレーサビリティ