JAJSRB6 September   2023 TXH0137D-Q1

ADVANCE INFORMATION  

  1.   1
  2. 1特長
  3. 2アプリケーション
  4. 3概要
  5. 4Pin Configuration and Functions
  6. 5Specifications
    1. 5.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2 ESD Ratings
    3. 5.3 Recommended Operating Conditions
    4. 5.4 Thermal Information
    5. 5.5 Electrical Characteristics
    6. 5.6 Switching Characteristics
    7. 5.7 Typical Characteristics
  7. 6Detailed Description
    1. 6.1 Overview
    2. 6.2 Functional Block Diagram
    3. 6.3 Feature Description
    4. 6.4 Device Functional Modes
      1. 6.4.1 Resistive Load Drive
      2. 6.4.2 ON State Input Current
      3. 6.4.3 High-Drive Outputs
  8.   Application and Implementation
    1. 7.1 Application Information
    2. 7.2 Typical Application
      1. 7.2.1 Design Requirements
      2. 7.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 7.2.2.1 TTL and other Logic Inputs
        2. 7.2.2.2 High-Impedance Input Drivers
        3. 7.2.2.3 Output Low Voltage
      3. 7.2.3 Application Curve
    3. 7.3 Power Supply Recommendations
    4. 7.4 Layout
      1. 7.4.1 Layout Guidelines
      2. 7.4.2 Layout Example
      3. 7.4.3 Thermal Considerations
        1. 7.4.3.1 Improving Package Thermal Performance
  9. 7Device and Documentation Support
    1. 7.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 7.2 サポート・リソース
    3. 7.3 Trademarks
    4. 7.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 7.5 用語集
  10. 8Revision History
  11. 9Mechanical, Packaging, and Orderable Information
    1. 9.1 Packaging Option Addendum
    2. 9.2 Tape and Reel Information
    3. 9.3 Mechanical Data

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

7.4 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。