9 改訂履歴
Changes from Revision A (March 2025) to Revision B (January 2026)
- 特長に、スルーレートに関する各種の製造プロセス仕様を追加しました
Go
- デバイス フロー情報の説明を「仕様」に追加Go
- すべてのチップ製造拠点 (CSO) の条件を電気的特性の標準的なテスト条件に追加しました
Go
- 電気的特性の出力電圧の標準値を「(V+) – 0.8」から「(V-) – 0.8」に変更しました
Go
- 電気的特性に、短絡電流、シンク、およびソースについて各種の製造プロセス仕様を追加
Go
- 電気的特性の短絡電流のシンクとソースを分離しましたGo
- 電気的特性の 0.01% セトリング時間のテスト条件を「CL = 1000pF」から「CL = 100pF」に変更しましたGo
- 電気的特性の静止電流のテスト条件を「IO = 0V」から「IO = 0A」に変更しました
Go
- 代表的特性に、全高調波歪+ノイズ対周波数、電圧ノイズ密度対周波数、スルーレート対温度、短絡電流対温度、出力電圧スイング対出力電流、および大信号ステップ応答に「CSO:SHE」を追加しました
Go
- 代表的特性に、全高調波歪み+ノイズ対周波数、電圧ノイズ密度対周波数、出力電圧スイング対出力電流 (シンク)、出力電圧スイング対出力電流 (ソース)、および大信号ステップ応答を追加しました
Go
- 「代表的特性」の標準的なテスト条件に「すべてのチップの原産拠点 (CSO)」の条件を追加
Go
- 機能ブロック図の各製造プロセスの INA133 内部回路図を変更および追加しました
Go
- 電源に関する推奨事項の「INA105」を「INA133」に変更しました
Go
Changes from Revision * (June 1999) to Revision A (March 2025)
- 文書全体を通して、表、図、相互参照の番号付けとフォーマットを更新Go
- 「ピン構成および機能」、「仕様」、「推奨動作条件」、「熱に関する情報」、「詳細説明」、「概要」、「機能ブロック図」、「機能説明」、「デバイスの機能モード」、「アプリケーションと実装」、「電源に関する推奨事項」、「レイアウト」、「レイアウトのガイドライン」、「レイアウト例」、「デバイスおよびドキュメントのサポート」、「メカニカル、パッケージ、および注文情報」セクションを追加Go
- 「パッケージ情報」表を変更Go
- INA133およびINA2133のピン機能表を追加Go
- 電気的特性のテーブルにテスト条件を追加
Go
- 電気的特性で、VS=±15V および VS=±5V の仕様の表を結合しました
Go
- 電気的特性のパラメータ名をオフセット電圧初期値と温度との関係からオフセット電圧ドリフトに変更
Go
- 電気的特性のパラメータ名をオフセット電圧の初期値と電源電圧との関係から電源除去比に変更
Go
- 電気的特性のパラメータ名をオフセット電圧と時間との関係から長期安定性に変更
Go
- 電気的特性のパラメータ名を電流制限、連続コモンから短絡電流に変更し、テスト条件を追加しました
Go
- 電源および温度範囲を電気的特性表から推奨動作条件および絶対最大定格表へ移動
Go
- 「アプリケーション」セクションを更新Go