JAJU847B
april 2021 – april 2023
概要
リソース
特長
アプリケーション
5
1
システムの説明
2
システム概要
2.1
ブロック図
2.2
設計上の考慮事項
2.3
主な使用製品
2.3.1
LMG342xR030
2.3.2
TMS320F28002x
2.3.3
OPA607
2.3.4
UCC21222
3
ハードウェアのテスト要件とテスト結果
3.1
ハードウェア要件
3.2
テスト構成
3.3
テスト結果
3.3.1
テスト手順
3.3.2
性能データ:効率、iTHD、力率
3.3.3
機能波形
3.3.3.1
電流検出と保護
3.3.3.2
電力段のスタートアップ波形と入力波形
3.3.3.3
AC 電圧降下テスト
3.3.3.4
サージ・テスト
3.3.3.5
EMI テスト
3.3.4
温度テスト
3.3.5
GaN FET のスイッチング波形
4
設計とドキュメントのサポート
4.1
設計ファイル
4.1.1
回路図
4.1.2
BOM
4.2
ドキュメントのサポート
4.3
サポート・リソース
4.4
商標
5
著者について
6
改訂履歴
3.3.1
テスト手順
図 3-2
に EUT 構成を示します。
図 3-2
EUT の設定
電源オンの手順:
冷却のためにファンに電源を投入します。
12VDC_1 に電源を投入します。消費電力は 0.13A 付近である必要があります。
12VDC_2 に電源を投入します。消費電力は 0.01A 未満である必要があります。
DC 負荷を CC モード、0.5A、負荷オンに設定します。
AC ソースに電源を投入します (200VAC~277VAC)。DC 出力が徐々に 400VDC に上昇します。
テスト用に、DC 負荷を 0~10A の範囲で調整します。
電源オフの手順:
負荷を 1A に下げます。
AC 入力の電源をオフにします。
12VDC_1 と 12VDC_2 の電源をオフにします。
冷却ファンをオフにします。