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CD40174B

ACTIVO

CMOS hexadecimal con flip flops tipo D

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CD40174B

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Detalles del producto

Number of channels 6 Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 8 IOL (max) (mA) 6.8 IOH (max) (mA) -6.8 Supply current (max) (µA) 600 Features Balanced outputs, Positive input clamp diode, Standard speed (tpd > 50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog
Number of channels 6 Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 8 IOL (max) (mA) 6.8 IOH (max) (mA) -6.8 Supply current (max) (µA) 600 Features Balanced outputs, Positive input clamp diode, Standard speed (tpd > 50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog
PDIP (N) 16 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6 SOP (NS) 16 79.56 mm² 10.2 x 7.8 TSSOP (PW) 16 32 mm² 5 x 6.4
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Standardized, symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (full package-temperature range) =
            1 V at VDD = 5 V
            2 V at VDD = 10 V
         2.5 V at VDD = 15 V
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"
  • Applications:
    • Shift Registers
    • Buffer/Storage Registers
    • Pattern Generators
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Standardized, symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (full package-temperature range) =
            1 V at VDD = 5 V
            2 V at VDD = 10 V
         2.5 V at VDD = 15 V
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"
  • Applications:
    • Shift Registers
    • Buffer/Storage Registers
    • Pattern Generators

Cd40174B consists of six identical ’D’-type flip-flops having independent DATA inputs. The CLOCK and CLEAR\ inputs are common to all six units. Data are transferred to the Q outputs on the positive-going transition of the clock pulse. All sic flip-flops are simultaneously reset by a low level on the CLEAR\ input.

The CD40174B types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 16-lead small-outline packages (M, M96, MT and NSR suffixes), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

Cd40174B consists of six identical ’D’-type flip-flops having independent DATA inputs. The CLOCK and CLEAR\ inputs are common to all six units. Data are transferred to the Q outputs on the positive-going transition of the clock pulse. All sic flip-flops are simultaneously reset by a low level on the CLEAR\ input.

The CD40174B types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 16-lead small-outline packages (M, M96, MT and NSR suffixes), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).
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Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
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Tipo Título Fecha
* Data sheet CD40174B TYPES datasheet (Rev. C) 13 oct 2003

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

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