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SN54SC1G125-SEP

ACTIVO

Radiation-tolerant, single channel buffer with triple-state outputs

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SN54SC1G125-SEP

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Detalles del producto

Rating Space Operating temperature range (°C) to
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SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² (2.9 mm × 2.8 mm)
  • VID V62/26602
  • Radiation - total ionizing dose (TID):
    • TID characterized up to 50krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
  • Radiation - single-event effects (SEE):
    • Single event latch-up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single event transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg

  • Wide operating range from 1.2V to 5.5V

  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78
  • Space enhanced plastic:
    • Supports Defense and Aerospace Applications
    • Controlled baseline
    • Au bond-wire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 out gassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
  • VID V62/26602
  • Radiation - total ionizing dose (TID):
    • TID characterized up to 50krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
  • Radiation - single-event effects (SEE):
    • Single event latch-up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single event transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg

  • Wide operating range from 1.2V to 5.5V

  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78
  • Space enhanced plastic:
    • Supports Defense and Aerospace Applications
    • Controlled baseline
    • Au bond-wire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 out gassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability

The SN54SC1G125-SEP is a single line driver with a 3-state output. The output is disabled when the output-enable (OE) input pin is at a logic high level. When (OE) is at a logic low level, true data is passed from the A input to the Y output.

The SN54SC1G125-SEP is a single line driver with a 3-state output. The output is disabled when the output-enable (OE) input pin is at a logic high level. When (OE) is at a logic low level, true data is passed from the A input to the Y output.
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Documentación técnica

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* Hoja de datos SN54SC1G125-SEP Radiation Tolerant, Single Bus Buffer Gate With 3-State Output datasheet (Rev. A) PDF | HTML 5/05/2026
* Informe de radiación y confiabilidad SN54SC1G125-SEP Total Ionizing Dose (TID) 30/04/2026
* Informe de radiación y confiabilidad SN54SC1G125-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report PDF | HTML 29/04/2026
* Informe de radiación y confiabilidad SN54SC1G125-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 1/04/2026

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

5-8-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación de lógico genérico para encapsulados DCK, DCT, DCU, DRL y DBV,de 5- a 8-pines

EVM flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo que tenga un encapsulado DCK, DCT, DCU, DRL o DBV y entre 5 y 8 pines.
Guía del usuario: PDF
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Soporte y capacitación

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