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SN54SC8T244-SEP

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Radiation-tolerant, dual, 8 bit, fixed-direction level translator with 3-state outputs

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SN54SC8T244-SEP

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Detalles del producto

Bits (#) 8 Data rate (max) (Mbps) 150 Topology Push-Pull Direction control (typ) Fixed-direction Vin (min) (V) 1.2 Vin (max) (V) 5.5 Applications GPIO Features Output enable, Partial power down (Ioff), Single supply, Vcc isolation Prop delay (ns) 7.9 Technology family LVT Supply current (max) (mA) 0.22 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
Bits (#) 8 Data rate (max) (Mbps) 150 Topology Push-Pull Direction control (typ) Fixed-direction Vin (min) (V) 1.2 Vin (max) (V) 5.5 Applications GPIO Features Output enable, Partial power down (Ioff), Single supply, Vcc isolation Prop delay (ns) 7.9 Technology family LVT Supply current (max) (mA) 0.22 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 20 41.6 mm² (6.5 mm × 6.4 mm)
  • Vendor item drawing available, VID V62/25631-01XE
  • Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
    • TID characterized up to 50krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
  • Radiation - Single-Event Effects (SEE):
    • Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg

  • Wide operating range of 1.2V to 5.5V

  • Single-supply voltage translator:

    • Up translation:

      • 1.2V to 1.8V

      • 1.5V to 2.5V

      • 1.8V to 3.3V

      • 3.3V to 5.0V

    • Down translation:

      • 5.0V, 3.3V, 2.5V to 1.8V
      • 5.0V, 3.3V to 2.5V
      • 5.0V to 3.3V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic:
    • Supports defense and aerospace applications
    • Controlled baseline
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
  • Vendor item drawing available, VID V62/25631-01XE
  • Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
    • TID characterized up to 50krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
  • Radiation - Single-Event Effects (SEE):
    • Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg

  • Wide operating range of 1.2V to 5.5V

  • Single-supply voltage translator:

    • Up translation:

      • 1.2V to 1.8V

      • 1.5V to 2.5V

      • 1.8V to 3.3V

      • 3.3V to 5.0V

    • Down translation:

      • 5.0V, 3.3V, 2.5V to 1.8V
      • 5.0V, 3.3V to 2.5V
      • 5.0V to 3.3V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic:
    • Supports defense and aerospace applications
    • Controlled baseline
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability

The SN54SC8T244-SEP is an octal buffer with 3-state outputs. The device is configured into two banks of four drivers, each controlled by an output enable pin.

The input is designed with a reduced threshold circuit to support up translation when the supply voltage is larger than the input voltage. Additionally, the 5V tolerant input pins enable down translation when the input voltage is larger than the supply voltage. The output level is always referenced to the supply voltage (VCC) and supports 1.8V, 2.5V, 3.3V, and 5V CMOS levels.

The SN54SC8T244-SEP is an octal buffer with 3-state outputs. The device is configured into two banks of four drivers, each controlled by an output enable pin.

The input is designed with a reduced threshold circuit to support up translation when the supply voltage is larger than the input voltage. Additionally, the 5V tolerant input pins enable down translation when the input voltage is larger than the supply voltage. The output level is always referenced to the supply voltage (VCC) and supports 1.8V, 2.5V, 3.3V, and 5V CMOS levels.
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Documentación técnica

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* Hoja de datos SN54SC8T244-SEP Radiation Tolerant, Octal Buffers/Drivers with 3-State Outputs datasheet PDF | HTML 26/01/2025
* Informe de radiación y confiabilidad SN54SC8T244-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 21/02/2025
* Informe de radiación y confiabilidad SN54SC8T244-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report 19/02/2025
* Informe de radiación y confiabilidad SN54SC8T541-SEP Single Event Effects Report PDF | HTML 16/01/2025

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación (EVM) 14-24-LOGIC-EVM está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que se encuentre en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
TSSOP (PW) 20 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

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