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SN74AHC273-Q1

ACTIVO

Biestables octales de tipo D con opción de eliminación de calidad automotriz

Detalles del producto

Operating temperature range (°C) to Rating Automotive
Operating temperature range (°C) to Rating Automotive
TSSOP (PW) 20 41.6 mm² (6.5 mm × 6.4 mm) VQFN (RKS) 20 11.25 mm² (4.5 mm × 2.5 mm) VSSOP (DGS) 20 24.99 mm² (5.1 mm × 4.9 mm)
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C
    • Device HBM ESD classification level 2
    • Device CDM ESD classification level C4B
  • Available in wettable flank QFN package
  • Supply operating range 2V to 5.5V
  • Low delay, 18.8ns at 5V, 15pF load
  • Supports 130MHz at 5V, 15pF load
  • Latch-up performance exceeds 100mAper JESD 17
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C
    • Device HBM ESD classification level 2
    • Device CDM ESD classification level C4B
  • Available in wettable flank QFN package
  • Supply operating range 2V to 5.5V
  • Low delay, 18.8ns at 5V, 15pF load
  • Supports 130MHz at 5V, 15pF load
  • Latch-up performance exceeds 100mAper JESD 17

The SN74AHC273-Q1 contains eight positive-edge-triggered D-type flip-flops with a direct active low clear (CLR) input.

Information at the data (D) inputs meeting the setup time requirements is transferred to the Q outputs on the positive-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a particular voltage level and is not directly related to the transition time of the positive-going pulse. When CLK is at either the high or low level, the D input has no effect at the output.

The SN74AHC273-Q1 contains eight positive-edge-triggered D-type flip-flops with a direct active low clear (CLR) input.

Information at the data (D) inputs meeting the setup time requirements is transferred to the Q outputs on the positive-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a particular voltage level and is not directly related to the transition time of the positive-going pulse. When CLK is at either the high or low level, the D input has no effect at the output.

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Documentación técnica

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* Hoja de datos SN74AHC273-Q1 Automotive Octal D-Type Flip-Flops with Clear datasheet (Rev. A) PDF | HTML 2/06/2026

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación (EVM) 14-24-LOGIC-EVM está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que se encuentre en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Placa de evaluación

14-24-NL-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados sin plomo de 14 a 24 pines

El 14-24-NL-LOGIC-EVM es un módulo de evaluación flexible (EVM) diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico o de traducción que tenga un encapsulado BQA, BQB, RGY, RSV, RJW o RHL de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
TSSOP (PW) 20 Ultra Librarian
VQFN (RKS) 20 Ultra Librarian
VSSOP (DGS) 20 Ultra Librarian

Pedidos y calidad

Soporte y capacitación

Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI

El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

Si tiene alguna pregunta sobre calidad, encapsulados o pedido de productos de TI, consulte el servicio de asistencia de TI. ​​​​​​​​​​​​​​

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