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Biestables tipo D

SN74LV74A

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Biestables dobles de tipo D con activación de borde positivo

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SN74LV74A

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Detalles del producto

Number of channels 2 Technology family LV-A Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 110 IOL (max) (mA) 12 IOH (max) (mA) -12 Supply current (max) (µA) 20 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff) Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Catalog
Number of channels 2 Technology family LV-A Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 110 IOL (max) (mA) 12 IOH (max) (mA) -12 Supply current (max) (µA) 20 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff) Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Catalog
SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 SOP (NS) 14 79.56 mm² 10.2 x 7.8 SSOP (DB) 14 48.36 mm² 6.2 x 7.8 TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4 TVSOP (DGV) 14 23.04 mm² 3.6 x 6.4 VQFN (RGY) 14 12.25 mm² 3.5 x 3.5
  • 2-V to 5.5-V VCC Operation
  • Maximum tpd of 8.5 ns at 5 V
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce)
    < 0.8 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Typical VOHV (Output VOH Undershoot)
    > 2.3 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Support Mixed-Mode Voltage Operation on
    All Ports
  • Ioff Supports Partial-Power-Down
    Mode Operation
  • Latch-up Performance Exceeds 250 mA
    Per JESD 17
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 500-V Charged-Device Model (C101)
  • 2-V to 5.5-V VCC Operation
  • Maximum tpd of 8.5 ns at 5 V
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce)
    < 0.8 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Typical VOHV (Output VOH Undershoot)
    > 2.3 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Support Mixed-Mode Voltage Operation on
    All Ports
  • Ioff Supports Partial-Power-Down
    Mode Operation
  • Latch-up Performance Exceeds 250 mA
    Per JESD 17
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 500-V Charged-Device Model (C101)

These dual positive-edge-triggered D-type flip-flops are designed for 2-V to 5.5-V VCC operation.

These dual positive-edge-triggered D-type flip-flops are designed for 2-V to 5.5-V VCC operation.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet SNx4LV74A Dual Positive-Edge-Triggered D-Type Flip-Flops datasheet (Rev. M) PDF | HTML 29 mar 2015
Application note Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) PDF | HTML 15 dic 2022

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Placa de evaluación

14-24-NL-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados sin conductores de 14 a 24 pine

14-24-NL-LOGIC-EVM es un módulo de evaluación (EVM) flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico o de traducción que tenga un encapsulado BQA, BQB, RGY, RSV, RJW o RHL de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

SN74LV74A IBIS Model

SCEM476.ZIP (15 KB) - IBIS Model
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Paquete Pasadores Descargar
SOIC (D) 14 Ver opciones
SOP (NS) 14 Ver opciones
SSOP (DB) 14 Ver opciones
TSSOP (PW) 14 Ver opciones
TVSOP (DGV) 14 Ver opciones
VQFN (RGY) 14 Ver opciones
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.

Si tiene preguntas sobre la calidad, el paquete o el pedido de productos de TI, consulte el soporte de TI. ​​​​​​​​​​​​​​

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