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SN74LVC1G125B-EP

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Búfer único de 1.65 V a 5.5 V con salidas de 3 estados de producto mejorado

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SN74LVC1G125B-EP

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Detalles del producto

Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.1 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 IOL (max) (mA) 32 Supply current (max) (µA) 10 IOH (max) (mA) -32 Input type Standard CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.1 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 IOL (max) (mA) 32 Supply current (max) (µA) 10 IOH (max) (mA) -32 Input type Standard CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² 2.9 x 2.8
  • Operating range from 1.1V to 5.5V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Latch-up performance exceeds 100mAper JESD 78
  • Supports defense and aerospace applications:
    • Controlled baseline
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
  • Operating range from 1.1V to 5.5V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Latch-up performance exceeds 100mAper JESD 78
  • Supports defense and aerospace applications:
    • Controlled baseline
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability

The SN74LVC1G125B-EP device is a single bus buffer gate/line driver with 3-state output. The output is disabled when the output-enable ( OE) input is high. When OE is low, true data is passed from the A input to the Y output.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.

The SN74LVC1G125B-EP device is a single bus buffer gate/line driver with 3-state output. The output is disabled when the output-enable ( OE) input is high. When OE is low, true data is passed from the A input to the Y output.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.
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Documentación técnica

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Documentación principal Tipo Título Opciones de formato Fecha
* Data sheet SN74LVC1G125B-EP Octal Buffers With 3-Stet Outputs datasheet PDF | HTML 29 jun 2026
* Radiation & reliability report SN74LVC1G125B-EP Enhanced Product Qualification and Reliability Report PDF | HTML 06 mar 2026
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Application note Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 01 ago 1997
Application note CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 01 jun 1997
Application note LVC Characterization Information 01 dic 1996
Application note Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 01 oct 1996
Application note Live Insertion 01 oct 1996
Design guide Low-Voltage Logic (LVC) Designer's Guide 01 sep 1996
Application note Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 01 may 1996

Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

5-8-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación de lógico genérico para encapsulados DCK, DCT, DCU, DRL y DBV,de 5- a 8-pines

EVM flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo que tenga un encapsulado DCK, DCT, DCU, DRL o DBV y entre 5 y 8 pines.
Guía del usuario: PDF
No disponible en TI.com
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)/reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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