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Product type Logic Die or wafer type Tested Die Rating Space Operating temperature range (°C) 25 to 25
Product type Logic Die or wafer type Tested Die Rating Space Operating temperature range (°C) 25 to 25
DIESALE (TD) See data sheet
  • Wide Operating Voltage Range
  • Outputs Can Drive Up To 10 LSTTL Loads
  • Low Power Consumption
  • Typical tpd = 8 ns
  • Low Input Current

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  • Outputs Can Drive Up To 10 LSTTL Loads
  • Low Power Consumption
  • Typical tpd = 8 ns
  • Low Input Current

The SN54HC08-DIE device contains four independent 2-input AND gates. Each gate performs the Boolean function of Y = A • B or Y = A + B in positive logic.

The SN54HC08-DIE device contains four independent 2-input AND gates. Each gate performs the Boolean function of Y = A • B or Y = A + B in positive logic.

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類型 標題 日期
* Data sheet Rad-Tolerant Space Grade Die, Quadruple 2-Input Positive-AND Gates, SN54HC08-DIE datasheet 2013年 6月 5日
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Application note Using High Speed CMOS and Advanced CMOS in Systems With Multiple Vcc 1996年 4月 1日

設計與開發

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封裝 針腳 CAD 符號、佔位空間與 3D 模型
DIESALE (TD)

訂購與品質

內含資訊:
  • RoHS
  • REACH
  • 產品標記
  • 鉛塗層/球物料
  • MSL 等級/回焊峰值
  • MTBF/FIT 估算值
  • 材料內容
  • 認證摘要
  • 進行中持續性的可靠性監測
內含資訊:
  • 晶圓廠位置
  • 組裝地點

支援與培訓

內含 TI 工程師技術支援的 TI E2E™ 論壇

內容係由 TI 和社群貢獻者依「現狀」提供,且不構成 TI 規範。檢視使用條款

若有關於品質、封裝或訂購 TI 產品的問題,請參閱 TI 支援。​​​​​​​​​​​​​​

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