パラメトリック測定ユニット (PMU)
製品とリファレンス・デザイン
パラメトリック測定ユニット (PMU)
概要
TI の IC とリファレンス デザインは、ウェハー、パッケージ、ボードの各レベルで試験を行う、パラメトリック測定ユニット (PMU) の設計と製作に役立ちます。その結果、多数のチャネルに対応する高密度ソリューションを実現すると同時に、チャネル間のばらつきを最小化することができます。
設計要件
次世代の PMU の一般的な設計要件：
- 複数のデータ・アクイジション・チャネルを活用した、最高レベルの速度と精度。
- 測定ドリフトの最小化に役立つ、厳格な温度管理。
- 測定精度の向上につながる、高精度リファレンス電圧の生成。
- SNR (信号雑音比) 性能の最大化に役立つ、低ジッタのクロック・ディストリビューション。
- ボード相互間のスペース最小化につながる、高集積で高さの低いパワー・モジュール。
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| 種類 | タイトル | 英語版のダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| アプリケーション概要 | Precision ADC for Measuring Analog Outputs of Parametric Measurement Unit (PMU) | PDF | HTML | 2023年 2月 22日 | |||
| アプリケーション概要 | 半導体テスター用の高精度アンプの選択方法 (Rev. A 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2022年 5月 8日 | |
| アプリケーション概要 | Pairing up Op Amp and Buffer for Higher Output Power Plus Speed in ATE | 2022年 5月 11日 | ||||
| アプリケーション・ノート | When to Replace a Relay with a Multiplexer | PDF | HTML | 2022年 5月 10日 |