試験/測定
TI のアナログ製品や組込みプロセッシング製品と専門知識を活用すると、高密度試験の実施、試験時間の短縮、精度の向上を実現可能
TI の高性能のシグナル・チェーン、電源、プロセッサ製品を活用すると、革新的で差別化された計測機器と電子試験装置を製作できます。業界をリードする製品と特定用途向けのリファレンス・デザイン・リソースの両方を提供することで、TI は設計上の最重要課題を解決し、市場投入までの期間を短縮できるようにお客様を支援します。TI はまた、バッテリの編成や半導体 ATE (自動試験装置) などのアプリケーションでスケーラビリティと高性能を実現しています。
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試験および測定アプリケーションで TI 製品が選ばれる理由
ノイズを最小限抑えた設計
TI の高性能シグナル・チェーンと低ノイズの電源製品、リファレンス・デザインを活用すると、最高の SNR 性能を実現し、開発期間を短縮できます。
チャネル密度の最大化
TI の革新的なパッケージ技術と設計統合向け製品を活用すると、シグナル・チェーンと電源ソリューションのサイズを縮小できます。
高精度と高精密の実現
最新の高精度 ADC とアンプを活用すると、お客様のパフォーマンスへのニーズを満たし、性能 / コスト比を向上させることができます。
試験と測定における新機能のエンジニアリング
IC に対する需要の増大に伴い、テスト・チャネルの高密度化、VI 計測機器が対応すべき電圧と電流が増加しています。TI のパワー・アンプ、スイッチ、パワー・モジュールを採用すると、ソリューション・サイズの縮小およびテスト・チャネル密度の向上を実現できます。
アプリケーション・ノート
Pairing up Op Amp and Buffer for Higher Output Power Plus Speed in ATE
このアプリケーション・ノートでは、高精度アンプと高出力電流バッファを使用して主なシステム要件を満たす複合アンプ・ループについて説明します。
アプリケーション・ノート
半導体テスター用の高精度アンプの選択方法 (Rev. A 翻訳版)
半導体試験装置は、絶え間ない進化を続ける重要な製品分野です。半導体と IC がますます進化し、エレクトロニクスの限界を超えていくにつれて、試験装置も進化し続ける必要があります。
アプリケーション・ノート
When to Replace a Relay with a Multiplexer
光学リレー、機械式リレー、平坦なオン抵抗マルチプレクサ ― このアプリケーション・ノートでは、これら 3 つのソリューションにおけるパフォーマンス、コスト、サイズ、信頼性の違いについて説明します。
ノイズを最小限に抑えることは、クロックやデータ・コンバータ、アンプなど、試験および測定アプリケーション向けのノイズの影響を受けやすいシステムの電源を設計するエンジニアに共通の課題です。「ノイズ」という用語は人によって意味が異なりますが、TI ではノイズを、回路の中の抵抗とトランジスタにより発生する低周波数の熱ノイズと定義しています。
ノイズは、平方根ヘルツあたりのマイクロボルト単位のスペクトル・ノイズ密度曲線により、また 2 乗平均平方根マイクロボルト単位の積分出力ノイズとして確認することができ、一般的に 100Hz ～ 100kHz の特定の範囲にわたります。TI は、シグナル・チェーン内のデバイスのパフォーマンスに影響を及ぼす可能性のあるノイズ結合を低減するのに役立つ製品とリファレンス・デザインを提供しています。
技術記事
低ノイズの反転型降圧コンバータとは何ですか？
データ・コンバータやアンプに電力を供給するための負電圧が必要ですか？この種のシステムでは通常、このようなノイズの影響を受けやすいアナログ回路に電力を供給するために低ノイズであることが求められます。低ノイズの反転型降圧コンバータはどのように動作しますか？詳細をご覧ください。
Analog Design Journal
Designing a modern power supply for RF sampling converters
レシーバのシグナル・チェーンを簡素化し、システムの消費電力を低減するダイレクト RF サンプリング用の新しいアーキテクチャを使用して、システムの消費電力に対処する方法について説明します。
その他の技術資料
Low-noise and low-ripple techniques for a supply without an LDO PPT
パワー・サプライ・デザイン・セミナー：LDO を使用しない電源で低ノイズと低リップルを実現する方法についての詳細な概要
設計と開発に役立つリソース
リファレンス・デザイン
50A、100A、200A アプリケーション向け、モジュール型バッテリ・テスタのリファレンス・デザイン
このリファレンス・デザインはモジュール形式のバッテリ・テスト・ソリューションであり、1 つのデザインを使用するだけで、さまざまな電流レベルでバッテリをテストできるフレキシビリティを実現します。このデザインは TIDA-01041 リファレンス・デザインを活用しており、2 個の 100A バッテリ・テスタを独立形式で動作させること、または並列接続して最大電流出力を 100A から 200A に増やすことができます。このデザインは、設計理論、パーツの選定、このソリューションの最適化方法を提示します。
リファレンス・デザイン
Digital control cost-optimized 10-A battery formation and test reference design
This reference design provides a cost-effective solution for battery formation and test applications. This design uses the C2000™ real-time control MCU for high-resolution pulse-width modulation (PWM) generation, and constant-current (CC) and constant-voltage (CV)
control loops. It efficiently (...)
control loops. It efficiently (...)
リファレンス・デザイン
LCR meter analog front end reference design
TIDA-060029 リファレンス・デザインは、自動バランス (平衡) 設定に基づくインピーダンス測定法を使用して、LCR メーター・アプリケーション向けのアナログ・シグナル・チェーン・ソリューションを提示します。
主要製品
技術リソース
関連資料
アナログ技術者向けカリキュレータ
アナログ・エンジニア向けカリキュレータは、アナログ回路設計エンジニアが日常的に使用する反復的な計算の多くを迅速化します。
関連資料
TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®
PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。
関連資料
各種高精度 ADC 評価基板を TMDS64GPEVM または TMDS243GPEVM PRU に接続するためのアダプタ・カード
通信、データ・キャプチャ、ソフトウェア開発に適した 25 種類以上の高精度 A/D コンバータ (ADC) 評価基板 (EVM) とのインターフェイス。