來源測量單元 (SMU)
產品及參考設計
來源測量單元 (SMU)
概述
我們的積體電路與參考設計可幫助建立高精度的來源測量單元 (SMU)，以準確測試半導體或其它裝置的特性。
设计要求
新一代來源測量單元需要：
- 高電壓、電流源和測量能力。
- 具廣泛動態範圍的高精確度及測量能力。
- 直覺式介面可調整參數並監控麻醉劑用量。
- 支援脈衝模式以解除裝置自熱問題。
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