Los equipos finales, como los comprobadores SoC de señal mixta, memoria, baterías, probadores de pantallas de cristal líquido (LCD), equipos de sobremesa, tarjetas digitales de alta densidad, tarjetas de alimentación de alta densidad, equipos de rayos X, resonancia magnética, etc., requieren varios canales de muestreo rápidos y simultáneos con un excelente rendimiento de CC y CA, pero a baja potencia y en espacios del tablero pequeños. La solución propuesta en este diseño utiliza convertidores ADC de registro de aproximación sucesiva (SAR) de alto rendimiento (ADS8910B), amplificadores de precisión (OPA2625) y una referencia de tensión de precisión (REF5050).
Funciones
- Sistema de adquisición de datos de muestreo simultáneo de 4 canales, 18 bits y 1 MSPS
- Rendimiento de linealidad de 18 bits con DNL de NMC y linealidad INL de ±0.5 LSB para cada canal
- Relación señal-ruido de 101 dB y distorsión armónica total (THD) de 124 dB con entrada de onda sinusoidal de 2 kHz en cada canal
- >110 dB de aislamiento de canal a canal
- Este diseño de circuito ha sido probado e incluye una guía de inicio rápido.