CDCLVP111EVM-CVAL

CDCLVP111-SP 1:10 LVPECL クロックドライバの評価基板

CDCLVP111EVM-CVAL

購入

概要

CDCLVP111-SP 評価基板は、セラミックパッケージのエンジニアリングモデル (EM) を用いた CDCLVP111 クロック分配バッファのテストおよび検証を可能にします。

特長
  • 2 つの差動入力クロックのうち 1 つを、10 個の差動 LVPECL 出力クロックに分配
  • クロック入力を選択可能
  • 低出力スキュー
  • 広い電源電圧範囲
クロック・バッファ
CDCLVP111-SP 入力選択可能なクロック・ドライバ搭載、1:10、高速クロック・バッファ
ダウンロード 字幕付きのビデオを表示 ビデオ

購入と開発の開始

評価ボード

CDCLVP111EVM-CVAL — CDCLVP111-SP 1:10 LVPECL クロック・ドライバの評価モジュール

TI.com で取り扱いなし
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

技術資料

star
= TI が選択した主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアして、もう一度検索を行ってください。
すべて表示 1
種類 タイトル 英語版のダウンロード 日付
* EVM ユーザー ガイド (英語) CDCLVP111-SP Evaluation Module (CDCLVP111EVM-CVAL) 2016年 11月 17日

サポートとトレーニング

TI E2E™ Forums (英語) では、TI のエンジニアからの技術サポートが活用できます

すべてのフォーラムトピックを英語で表示

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関する質問は、TI サポートのページをご覧ください。

ビデオ