JAJSEA6B December   2017  – February 2019 LMH5401-SP

PRODUCTION DATA.  

  1. 特長
  2. アプリケーション
  3. 概要
    1.     Device Images
      1.      LMH5401-SPの小信号周波数応答
      2.      LMH5401-SPによるADC12D1620QMLの駆動
  4. 改訂履歴
  5. 概要(続き)
  6. Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  7. Specifications
    1. 7.1 Absolute Maximum Ratings
    2. 7.2 ESD Ratings
    3. 7.3 Recommended Operating Conditions
    4. 7.4 Thermal Information
    5. 7.5 Electrical Characteristics: VS = 5 V
    6. 7.6 Electrical Characteristics: VS = 3.3 V
    7. 7.7 Typical Characteristics: 5 V
    8. 7.8 Typical Characteristics: 3.3 V
  8. Parameter Measurement Information
    1. 8.1  Output Reference Nodes and Gain Nomenclature
    2. 8.2  ATE Testing and DC Measurements
    3. 8.3  Frequency Response
    4. 8.4  S-Parameters
    5. 8.5  Frequency Response with Capacitive Load
    6. 8.6  Distortion
    7. 8.7  Noise Figure
    8. 8.8  Pulse Response, Slew Rate, and Overdrive Recovery
    9. 8.9  Power Down
    10. 8.10 VCM Frequency Response
    11. 8.11 Test Schematics
  9. Detailed Description
    1. 9.1 Overview
    2. 9.2 Functional Block Diagram
    3. 9.3 Feature Description
      1. 9.3.1 Fully-Differential Amplifier
      2. 9.3.2 Operations for Single-Ended to Differential Signals
        1. 9.3.2.1 AC-Coupled Signal Path Considerations for Single-Ended Input to Differential Output Conversion
        2. 9.3.2.2 DC-Coupled Input Signal Path Considerations for SE-DE Conversions
        3. 9.3.2.3 Resistor Design Equations for Single-to-Differential Applications
        4. 9.3.2.4 Input Impedance Calculations
      3. 9.3.3 Differential-to-Differential Signals
        1. 9.3.3.1 AC-Coupled, Differential-Input to Differential-Output Design Issues
        2. 9.3.3.2 DC-Coupled, Differential-Input to Differential-Output Design Issues
      4. 9.3.4 Output Common-Mode Voltage
    4. 9.4 Device Functional Modes
      1. 9.4.1 Operation With a Split Supply
      2. 9.4.2 Operation With a Single Supply
  10. 10Application and Implementation
    1. 10.1 Application Information
      1. 10.1.1 Stability, Noise Gain, and Signal Gain
      2. 10.1.2 Input and Output Headroom Considerations
      3. 10.1.3 Noise Analysis
      4. 10.1.4 Noise Figure
      5. 10.1.5 Thermal Considerations
    2. 10.2 Typical Application
      1. 10.2.1 Design Requirements
      2. 10.2.2 Detailed Design Procedure
        1. 10.2.2.1 Driving Matched Loads
        2. 10.2.2.2 Driving Unmatched Loads For Lower Loss
        3. 10.2.2.3 Driving Capacitive Loads
        4. 10.2.2.4 Driving ADCs
          1. 10.2.2.4.1 SNR Considerations
          2. 10.2.2.4.2 SFDR Considerations
          3. 10.2.2.4.3 ADC Input Common-Mode Voltage Considerations—AC-Coupled Input
          4. 10.2.2.4.4 ADC Input Common-Mode Voltage Considerations—DC-Coupled Input
        5. 10.2.2.5 GSPS ADC Driver
        6. 10.2.2.6 Common-Mode Voltage Correction
        7. 10.2.2.7 Active Balun
      3. 10.2.3 Application Curves
    3. 10.3 Do's and Don'ts
      1. 10.3.1 Do:
      2. 10.3.2 Don't:
  11. 11Power Supply Recommendations
    1. 11.1 Supply Voltage
    2. 11.2 Single Supply
    3. 11.3 Split Supply
    4. 11.4 Supply Decoupling
  12. 12Layout
    1. 12.1 Layout Guidelines
    2. 12.2 Layout Example
  13. 13デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 13.1 デバイス・サポート
      1. 13.1.1 デバイスの項目表記
    2. 13.2 ドキュメントのサポート
      1. 13.2.1 関連資料
    3. 13.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 13.4 コミュニティ・リソース
    5. 13.5 商標
    6. 13.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 13.7 Glossary
  14. 14メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

概要

LMH5401-SPは、無線周波数(RF)や中間周波数(IF)のアプリケーション、または高速なDC結合の時間領域アプリケーションに対して最適化された、非常に高性能で放射線耐性が強化された差動アンプです。このデバイスは、アナログ/デジタル・コンバータ(ADC)の駆動時に、シングルエンドから差動への(SE-DE)変換を要するDCまたはAC結合アプリケーションに最適です。LMH5401-SPは、SE-DEまたは差動-差動(DE-DE)モードでの動作時に生じる2次/3次歪みを非常に小さく抑えることができます。

製品情報(1)

型番 グレード パッケージ
5962R1721401VXC 放射線耐性強化の保証 14ピンLCCC [FFK]
5.50mm×6.00mm
5962-1721401V2C QMLV
LMH5401FFK\EM エンジニアリング・サンプル(2)
LMH5401EVMCVAL セラミック評価ボード
  1. 利用可能なすべてのパッケージについては、このデータシートの末尾にある注文情報を参照してください。
  2. これらのユニットは、技術的な評価のみを目的としています。標準とは異なるフローに従って処理されています。これらのユニットは、認定、量産、放射線テスト、航空での使用には適していません。これらの部品は、MILに規定されている温度範囲-55℃~125℃、または動作寿命全体にわたる性能を保証されていません。