JAJST62 February   2024 SN74AVCH4T245-Q1

ADVANCE INFORMATION  

  1.   1
  2. 特長
  3. アプリケーション
  4. 概要
  5. Pin Configuration and Functions
  6. Specifications
    1. 5.1  Absolute Maximum Ratings
    2. 5.2  ESD Ratings
    3. 5.3  Recommended Operating Conditions
    4. 5.4  Thermal Information
    5. 5.5  Electrical Characteristics
    6. 5.6  Switching Characteristics, VCCA = 1.2V ± 0.12V
    7. 5.7  Switching Characteristics, VCCA = 1.5V ± 0.1V
    8. 5.8  Switching Characteristics, VCCA = 1.8V ± 0.15V
    9. 5.9  Switching Characteristics, VCCA = 2.5V ± 0.2V
    10. 5.10 Switching Characteristics, VCCA = 3.3V ± 0.3V
    11. 5.11 Operating Characteristics
    12. 5.12 Typical Characteristics
  7. Parameter Measurement Information
  8. Detailed Description
    1. 7.1 Overview
    2. 7.2 Functional Block Diagram
    3. 7.3 Feature Description
      1. 7.3.1 Fully Configurable Dual-Rail Design
      2. 7.3.2 Supports High Speed Translation
      3. 7.3.3 Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
      4. 7.3.4 Bus-Hold Circuitry
      5. 7.3.5 Vcc Isolation Feature
    4. 7.4 Device Functional Modes
  9.   Application and Implementation
    1. 8.1 Application Information
    2. 8.2 Typical Application
      1. 8.2.1 Design Requirements
      2. 8.2.2 Detailed Design Procedure
      3. 8.2.3 Application Curve
    3. 8.3 Power Supply Recommendations
    4. 8.4 Layout
      1. 8.4.1 Layout Guidelines
      2. 8.4.2 Layout Example
  10. Device and Documentation Support
    1. 8.1 Documentation Support
      1. 8.1.1 Related Documentation
    2. 8.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 8.3 サポート・リソース
    4. 8.4 Trademarks
    5. 8.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 8.6 用語集
  11. Revision History
  12. 10Mechanical, Packaging, and Orderable Information
    1. 10.1 Tape and Reel Information
    2. 10.2 Mechanical Data

パッケージ・オプション

メカニカル・データ(パッケージ|ピン)
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif この IC は、ESD によって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、IC を取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しい取り扱いおよび設置手順に従わない場合、デバイスを破損するおそれがあります。
ESD による破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密な IC の場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。