JAJSFO8C May   2018  – September 2025 BQ27Z561

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 特長
  3. アプリケーション
  4. 説明
  5. ピン構成および機能
  6. 仕様
    1. 5.1  絶対最大定格
    2. 5.2  ESD 定格
    3. 5.3  推奨動作条件
    4. 5.4  熱に関する情報
    5. 5.5  電源電流
    6. 5.6  内部 1.8V LDO (REG18)
    7. 5.7  I/O (PULS、INT)
    8. 5.8  チップ イネーブル (CE)
    9. 5.9  内部温度センサ
    10. 5.10 NTC サーミスタ測定のサポート
    11. 5.11 クーロン カウンタ (CC)
    12. 5.12 アナログ デジタル コンバータ (ADC)
    13. 5.13 内蔵発振器仕様
    14. 5.14 電圧リファレンス 1 (REF1)
    15. 5.15 電圧リファレンス 2 (REF2)
    16. 5.16 フラッシュ メモリ
    17. 5.17 I2C I/O
    18. 5.18 I2C のタイミング - 100kHz
    19. 5.19 I2C のタイミング - 400kHz
    20. 5.20 HDQ のタイミング
    21. 5.21 代表的特性
  7. 詳細説明
    1. 6.1 概要
    2. 6.2 機能ブロック図
    3. 6.3 機能説明
      1. 6.3.1  BQ27Z561 プロセッサ
      2. 6.3.2  バッテリ パラメータの測定値
        1. 6.3.2.1 クーロン カウンタ (CC)
        2. 6.3.2.2 CC デジタルフィルタ
        3. 6.3.2.3 ADC マルチプレクサ
        4. 6.3.2.4 A/D コンバータ (ADC)
        5. 6.3.2.5 内部温度センサ
        6. 6.3.2.6 外部温度センサのサポート
      3. 6.3.3  電源制御
      4. 6.3.4  バス通信インターフェイス
      5. 6.3.5  低周波発振器
      6. 6.3.6  高周波発振器
      7. 6.3.7  1.8V 低ドロップアウト レギュレータ
      8. 6.3.8  内部基準電圧
      9. 6.3.9  バッテリ残量計
      10. 6.3.10 充電制御機能
      11. 6.3.11 認証
    4. 6.4 デバイスの機能モード
      1. 6.4.1 寿命に関する記録機能
      2. 6.4.2 構成
        1. 6.4.2.1 クーロン カウント
        2. 6.4.2.2 セルの電圧測定
        3. 6.4.2.3 自動キャリブレーション
        4. 6.4.2.4 温度測定
  8. アプリケーションと実装
    1. 7.1 アプリケーション情報
    2. 7.2 代表的なアプリケーション
      1. 7.2.1 設計要件 (デフォルト)
      2. 7.2.2 詳細な設計手順
        1. 7.2.2.1 設計パラメータの変更
      3. 7.2.3 キャリブレーション手順
      4. 7.2.4 残量計データの更新
        1. 7.2.4.1 アプリケーション曲線
    3. 7.3 電源要件
    4. 7.4 レイアウト
      1. 7.4.1 レイアウトのガイドライン
      2. 7.4.2 レイアウト例
  9. デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 8.1 デバイス サポート
      1. 8.1.1 サード・パーティ製品に関する免責事項
    2. 8.2 ドキュメントのサポート
      1. 8.2.1 関連資料
    3. 8.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 8.4 サポート・リソース
    5. 8.5 商標
    6. 8.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 8.7 用語集
  10. 改訂履歴
  11. 10メカニカル、パッケージ、および注文情報

I2C のタイミング - 100kHz

パラメータテスト条件最小値公称値最大値単位
fSCLクロック動作周波数SCL デューティ サイクル = 50%100kHz
tHD:STASTART 条件のホールド時間4.0µs
tLOWSCL クロックの Low 期間4.7µs
tHIGHSCL クロックの High 期間4.0µs
tSU:STA繰り返し START のセットアップ4.7µs
tHD:DATデータ ホールド時間 (SDA 入力)0ns
tSU:DATデータ セットアップ時間 (SDA 入力)250ns
trクロック立ち上がり時間10%~90%1000ns
tfクロック立ち下がり時間90%~10%300ns
tSU:STOSTOP 条件のセットアップ時間4.0µs
tBUFSTOP から START のバス解放時間4.7µs