NESY036B September   2021  – April 2023 BQ25125 , LM5123-Q1 , LMR43610 , LMR43610-Q1 , LMR43620 , LMR43620-Q1 , TPS22916 , TPS3840 , TPS62840 , TPS63900 , TPS7A02

 

  1.   1
  2.   概覽
  3.   摘要
  4.   影響 IQ 的因素
  5.   低 IQ 為何產生新挑戰
    1.     瞬態回應
    2.     漣波
    3.     雜訊
    4.     晶粒尺寸與解決方案面積
    5.     洩漏與低於閾值的操作
  6.   如何打破低 IQ 障礙
    1.     解決瞬態回應問題
    2.     解決切換雜訊問題
    3.     解決其他雜訊問題
    4.     解決晶粒尺寸與解決方案面積問題
    5.     解決洩漏與低於閾值的操作問題
  7.   電氣特性
    1.     18
    2.     避免低 IQ 設計中的潛在系統陷阱
    3.     實現低 IQ 但不犧牲靈活性
    4.     減少外部零組件數以降低汽車應用中的 IQ
    5.     智慧使用或在智慧使用支援低 IQ 的啟用功能，或啟用在系統層級支援低 IQ 的功能
  8.   結論
  9.   低 IQ的重要產品類別

漣波

另一個實現低 IQ 的方式，是視負載電流進入不同省電模式。各模式間的轉換通常會自動執行，且各模式的執行與性能有顯著差異。在省電模式間轉換時的電壓漣波與輸出電壓準確度是兩個需要考量的點。由於各省點模式的操作條件 (例如在誤差放大器中) 通常不同，因此調整至不同操作點所需的轉換時間可能會直接在輸出電壓中產生誤差。此外，比較器在較低偏壓電流下的延遲較長，可能會導致電壓閾值與零電流偵測不準確，進而產生較高的輸出電壓漣波。